1) isotope X-ray fluorescence analysis
同位素X射线荧光分析(用同位素放射的射线激发出X射线荧光)
2) radioisotope X-ray fluorescence analyser
放射形同位素X射线荧光分析仪
3) Isotopic X_ray fluorescence spectrometer
同位素X射线荧光光谱
4) X-ray fluorescence elemental analysis
X射线荧光元素分析
6) X-ray fluorescence analysis
X射线荧光分析
1.
X-ray fluorescence analysis has been used to track and monitor the on-site analysis of rock cuttings in oil drilling field.
本文将X射线荧光分析技术用于石油钻井现场对岩屑进行在线跟踪监测分析,针对粉末状岩屑现场连续取样,并采用多层前馈神经网络BP(Back Propagation)模型,通过数据处理将不同岩层岩性用二进制代码描述,直接输出岩性或岩层的目标向量。
2.
Energy dispersive X-ray fluorescence analysis technology is an important tool of modern analysis ways, which is applied in steel、architecture material、electronic/magnetic material、chemistry industry、petroleum and charcoal、agriculture、environmental sample field .
能量色散X射线荧光分析技术是现代分析方法中的一种重要手段,广泛应用于钢铁、建筑材料、电子/磁性材料、化学工业、石油煤炭、农业、环境样品等领域。
3.
First of all, this paper gives a review of the development and current situation of fundamental parameters method of the energy dispersive X-ray fluorescence analysis and introduces theory and experience fitting form.
首先对能量色散X射线荧光分析基本参数法发展和现状进行了综述,介绍了目前基本参数法中准确程度较高的重要物理常数、参数、荧光强度等理论或经验拟合计算公式,并对其中算法进行了深入的研究,设计并实现基本参数法的计算程序,通过初步应用,取得了如下的成果: (1)由于激发因子与荧光产额、谱线分数、吸收限跃迁因子有关,其计算程序源代码复杂,因此需要对激发因子进行研究,本论文是在前人的理论和大量实验数据基础上进行新的拟合研究,提出了激发因子的计算公式,其准确程度已达到实际的需要。
补充资料：质子激发X射线荧光分析
利用原子受质子激发后产生的特征 X射线的能量和强度来进行物质定性和定量分析的方法。简称质子 X射线荧光分析，英文缩写为PIXE。
质子X射线荧光分析是20世纪 70年代发展起来的一种多元素微量分析技术，其分析灵敏度可达10-16克，相对灵敏度可达10-6～10-7克／克。原则上可分析原子序数大于13的各种元素。80年代前期，可实际测定的元素有：自铝至铈（氩、氪、氙、锝、钯和碲除外）、自钽至铋（铼、锇、铱除外）、钍和铀，有的设备还可分析镁和硼，共可测52种元素。
基本原理是用高速质子照射样品，质子与样品中的原子发生库仑散射。原子内层电子按一定几率被撞出内壳层,留下空穴,较外层电子向这个空穴跃迁时发射出特征X射线。用探测仪器探测和记录这些特征X射线谱，根据特征 X射线的能量可定性地判断样品中所含元素的种类，根据谱线的强度可计算出所测元素的含量。
质子X射线荧光分析的主要实验装置包括:①加速器，一般用质子静电加速器，选用能量为1～3兆电子伏的质子,在此能量范围内，质子激发X射线的产额高，灵敏度高；质子的能量再高时，将会引起许多核反应，使本底增大；能量再低时，质子的穿透能力下降，只能用于表面分析。②靶室（或称散射室）,是分析样品放置处,其中有特制的样品架，并且包括质子束准直系统、均束装置和集束装置，有探测窗连接探测器，靶室和真空系统相连接。③X射线能谱分析仪,常用硅（锂）能谱仪。在质子束照射下,样品发射出的特征X射线穿过铍窗、空气层和吸收片，进入硅（锂）能谱分析仪。这种谱仪在一次测量中可以记录样品中所有可分析元素的特征 X射线谱，配合电子计算机，可进行在线分析，直接给出各元素的含量。
质子 X射线荧光分析一般在真空中照射样品（称作真空分析或内束技术），但也发展了一种非真空分析技术（或称外束技术），即将质子束从真空室中引出，在空气（或氦气）中轰击样品。真空分析可能引起厚样品积累正电荷（质子电荷）而吸引周围电子，造成本底增高。非真空分析由于样品周围空气电离而有导电性，可消除电荷积累;空气有冷却作用,可使样品不易损坏。此外，在真空室外更换样品比较方便，液体或放气样品不受限制，样品尺寸也可不受靶室的限制。但是空气中的氩和氪对某些轻元素的分析有干扰作用。
在质子X射线荧光分析中所测得的X射线谱是由连续本底谱和特征 X射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X射线谱,能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解 X射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽和峰面积。谱的数学解法已研究出多种，并已编制成计算机程序。从解 X射线谱中可得到某一待测元素的特征谱峰的面积（峰计数），根据峰面积可计算出该元素的含量。这种直接计算的办法需要对探测系统标定探测效率、确定探头对靶子所张立体角、测定射到靶子上的质子数等。
在实际分析工作中多采用相对测定法，即将试样和标样同时分析比较,设试样和标样中待测元素的特征X射线谱峰计数为NX和NS，含量为WX和WS，则得：
WX＝NXWS/NS
参考书目
任炽刚等著:《质子X荧光分析和质子显微镜》，原子能出版社，北京，1981。
S.Johansson and T.Johansson,Analytical Application of Particle Induced X-Ray Emission,Nuclear Instruments and Methods,Vol.137,pp.473～516,1976.
质子X射线荧光分析是20世纪 70年代发展起来的一种多元素微量分析技术，其分析灵敏度可达10-16克，相对灵敏度可达10-6～10-7克／克。原则上可分析原子序数大于13的各种元素。80年代前期，可实际测定的元素有：自铝至铈（氩、氪、氙、锝、钯和碲除外）、自钽至铋（铼、锇、铱除外）、钍和铀，有的设备还可分析镁和硼，共可测52种元素。
基本原理是用高速质子照射样品，质子与样品中的原子发生库仑散射。原子内层电子按一定几率被撞出内壳层,留下空穴,较外层电子向这个空穴跃迁时发射出特征X射线。用探测仪器探测和记录这些特征X射线谱，根据特征 X射线的能量可定性地判断样品中所含元素的种类，根据谱线的强度可计算出所测元素的含量。
质子X射线荧光分析的主要实验装置包括:①加速器，一般用质子静电加速器，选用能量为1～3兆电子伏的质子,在此能量范围内，质子激发X射线的产额高，灵敏度高；质子的能量再高时，将会引起许多核反应，使本底增大；能量再低时，质子的穿透能力下降，只能用于表面分析。②靶室（或称散射室）,是分析样品放置处,其中有特制的样品架，并且包括质子束准直系统、均束装置和集束装置，有探测窗连接探测器，靶室和真空系统相连接。③X射线能谱分析仪,常用硅（锂）能谱仪。在质子束照射下,样品发射出的特征X射线穿过铍窗、空气层和吸收片，进入硅（锂）能谱分析仪。这种谱仪在一次测量中可以记录样品中所有可分析元素的特征 X射线谱，配合电子计算机，可进行在线分析，直接给出各元素的含量。
质子 X射线荧光分析一般在真空中照射样品（称作真空分析或内束技术），但也发展了一种非真空分析技术（或称外束技术），即将质子束从真空室中引出，在空气（或氦气）中轰击样品。真空分析可能引起厚样品积累正电荷（质子电荷）而吸引周围电子，造成本底增高。非真空分析由于样品周围空气电离而有导电性，可消除电荷积累;空气有冷却作用,可使样品不易损坏。此外，在真空室外更换样品比较方便，液体或放气样品不受限制，样品尺寸也可不受靶室的限制。但是空气中的氩和氪对某些轻元素的分析有干扰作用。
在质子X射线荧光分析中所测得的X射线谱是由连续本底谱和特征 X射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素，各元素都发射一组特征X射线谱,能量相同或相近的谱峰叠加在一起，直观辨认谱峰相当困难，需要通过复杂的数学处理来分解 X射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽和峰面积。谱的数学解法已研究出多种，并已编制成计算机程序。从解 X射线谱中可得到某一待测元素的特征谱峰的面积（峰计数），根据峰面积可计算出该元素的含量。这种直接计算的办法需要对探测系统标定探测效率、确定探头对靶子所张立体角、测定射到靶子上的质子数等。
在实际分析工作中多采用相对测定法，即将试样和标样同时分析比较,设试样和标样中待测元素的特征X射线谱峰计数为NX和NS，含量为WX和WS，则得：
WX＝NXWS/NS
参考书目
任炽刚等著:《质子X荧光分析和质子显微镜》，原子能出版社，北京，1981。
S.Johansson and T.Johansson,Analytical Application of Particle Induced X-Ray Emission,Nuclear Instruments and Methods,Vol.137,pp.473～516,1976.
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
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