1) dissecting needle
分析针
2) Pointer analysis
指针分析
1.
Research on Memory Leak Faults Testing Method Based on Pointer Analysis;
基于指针分析的内存泄露故障测试方法研究
2.
Comparison of five pointer analysis algorithms;
5种指针分析算法的精度和效率比较
3.
Interprocedural pointer analysis plays an important role in parallelizing C program.
提出了一种新的指针指向信息的过程间传播方法 ,对过程间指针分析所必须解决的若干重要问题给出了详尽的算法 ,从而形成了一种实用的上下文敏感的过程间指针分析框架 。
4) Pinhole Image Analysis
针孔像分析
1.
Study of MTF Measurement Technique Based on Pinhole Image Analysis;
基于针孔像分析的光学传递函数测试技术研究
6) index quantitative analysis
指针量化分析
补充资料：扫描质子微深针分析
分子式：
CAS号：
性质：又称微束质子X射线荧光（micro PIXE）分析或质子显微镜（proton microscope）分析。系用微米质子束对样品进行微区扫描的元素分析技术。基本原理是将高速质子束准直、聚焦或微米束轰击样品，质子与样品原子相互作用产生特征X射线，用Si(Li)探测器测定样品中元素的含量。特点是样品用量少（几个μm3）、灵敏度高（比扫描电镜高2～3个数量级）、检测限低（1×106～10×106）、精确度为10%～20%、空间分辨率为0.5～10μm，为非破坏性多元素（20～30个）同时分析，并可二维扫描，获得微区或一个点（～1μm）上的元素分布信息。近年来此技术在环境样品中如大气颗粒物（飞灰、煤尘）单个颗粒的元素分析也得到了应用。SPM是当代物理分析的高新技术，其应用范围及作用将日益扩大。
CAS号：
性质：又称微束质子X射线荧光（micro PIXE）分析或质子显微镜（proton microscope）分析。系用微米质子束对样品进行微区扫描的元素分析技术。基本原理是将高速质子束准直、聚焦或微米束轰击样品，质子与样品原子相互作用产生特征X射线，用Si(Li)探测器测定样品中元素的含量。特点是样品用量少（几个μm3）、灵敏度高（比扫描电镜高2～3个数量级）、检测限低（1×106～10×106）、精确度为10%～20%、空间分辨率为0.5～10μm，为非破坏性多元素（20～30个）同时分析，并可二维扫描，获得微区或一个点（～1μm）上的元素分布信息。近年来此技术在环境样品中如大气颗粒物（飞灰、煤尘）单个颗粒的元素分析也得到了应用。SPM是当代物理分析的高新技术，其应用范围及作用将日益扩大。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条