1) whole optical spectrum fitting
全光谱拟合法
1.
This paper introduces a method about measuring the optical parameters of thin films using whole optical spectrum fitting and describes several kinds of Overall Optimization Algorithms.
全光谱拟合法测量光学薄膜的实验系统主要由光源、光谱仪、光学探头和计算机等组成。
2) whole powder pattern fitting
全谱拟合法
3) Rietveld whole pattern fitting
Rietveld全谱拟合方法
6) split-operator
谱拟合法
1.
Use spectral fitting method,split-operator spectral method,solving the time-dependent Schrdinger equation of hydrogen system with confined potential enery,simulatel the process of laser interacting on hydrogen system.
采用谱拟合法,劈裂算符法对处于限制势中的氢原子与激光场的相互作用进行了布居分布的数值计算,通过模拟实验与分析,结果表明加了限制势之后,通过降低激光场强度在减少布居泄漏的同时可以保证Rabi振荡频率不变。
补充资料：衰减全内反射光谱法
分子式：
CAS号：
性质：本法采用光透电极,但入射光并非垂直透射,而是用大于临界角的入射角,使金属/电解液界面发生“全内反射”,收集界面物质衰减的吸收谱,可以获得金属吸附及界面新相形成等信息。
CAS号：
性质：本法采用光透电极,但入射光并非垂直透射,而是用大于临界角的入射角,使金属/电解液界面发生“全内反射”,收集界面物质衰减的吸收谱,可以获得金属吸附及界面新相形成等信息。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条