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1)  Rietveld Refinement
Rietveld全谱拟合
1.
The Rietveld refinements of powder X-ray diffraction pattems show that all thesamples are sin.
通过Rietveld全谱拟合的方法分析,结果表明随掺杂浓度的增大,晶体的结构对称性没有发生变化,都成立方结构,空间群Im(?)。
2.
Results from Rietveld refinement of powder X-ray diffraction patterns showed that all samples were single phase with space group R 3 c and there were no structural phase transition for vacancy content x ranging from 0 to 0.
对粉末X射线衍射谱的Rietveld全谱拟合表明样品均为单相,在x=0到x=0。
3.
Rietveld Refinement of Cu doped La_(0.67)Ca_(0.33)MnO_3 crystal structure;
所有样品的X射线衍射结果用Rietveld全谱拟合的方法来分析。
2)  Rietveld whole pattern fitting
Rietveld全谱拟合方法
3)  Rietveld refinement
Rietveld拟合
4)  whole pattern fitting
全谱拟合
5)  whole powder pattern fitting
全谱拟合法
6)  whole optical spectrum fitting
全光谱拟合法
1.
This paper introduces a method about measuring the optical parameters of thin films using whole optical spectrum fitting and describes several kinds of Overall Optimization Algorithms.
全光谱拟合法测量光学薄膜的实验系统主要由光源、光谱仪、光学探头和计算机等组成。
补充资料:非线性最小二乘拟合
分子式:
CAS号:

性质:用最小二乘法拟合非线性方程。有些变量之间的非线性模型,通过变量变换可以化为线性模型,此称为外在线性。而有些变量之间的非线性模型,通过变量变换不能化为线性模型,通称为内在非线性。对于非线性模型y=f(ξ,θ)+ε,其残差平方和。S(θ)是θ的函数,当模型关于θ是非线性的,正规方程关于θ也是非线性的。基于使残差平方和s(θ)达到极小的原理求出θ的估计值,拟合非线性回归方程。

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参考词条