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1) Hibernate mapping tool
Hibernate映射工具
2) Hibernate 0RM
Hibernate映射
3) Hibernate ORM Framework
Hibernate对象关系映射框架
4) concrete and abstract mapping
具象式映射
5) Spring
[英][sprɪŋ] [美][sprɪŋ]
Hibernate
1.
Spring which is designed for solving the complexity of developing enterprise application program is a multi-tier J2EE lightw.
Hibernate是一个开源的持久层框架,它全面减轻了数据库开发的复杂度,使系统具有更好的性能和移植性。
2.
Nowadays, open source frameworks like Struts and Hibernate and Spring are getting popular and have been used in many software development projects.
目前,以Struts、Hibernate、Spring为代表的丌源框架正在逐渐流行开来,并且己应用于越来越多的系统开发上。
3.
0 technology development,and to discuss the development trend of the WEB system,integration of the Struts + Hibernate + Spring framework technology, and the latter to join the Web2.
0技术的发展,讨论了WEB系统发展趋势,整合了Struts+Hibernate+Spring的框架技术,并且在后期加入Ajax等的Web2。
6) technology mapping
工艺映射
1.
Application of SAA in FPGA technology mapping based on LUT structure;
模拟退火算法在基于LUT结构的FPGA工艺映射中的应用
2.
An algorithm for doing area-optimal technology mapping for FPGA based on MUX-LUT mixed logic cell structure is presented.
针对具有MUX LUT混合结构的FPGA芯片 ,提出一种对其进行工艺映射的面积优化映射算法 该算法的内容包括逻辑门电路到MUX网络的转换方法 ,MUX网络到FPGA芯片逻辑单元的映射方法 文中算法采用模式匹配的方法除去电路中的冗余MUX ,以减少映射结果的面积开销 应用测试电路分别对该算法和Xilinx的Foun dation系统对XC4 0 0 3E芯片的工艺映射结果进行了比较测试 ,并给出了测试结
3.
Register Transfer Level Mapping (RTLM) algorithm for technology mapping at RT level is presented, which supports current day design methodologies using high level design and design reuse.
提出寄存器传输级工艺映射 (RTLM)算法 ,该算法支持使用高层次综合和设计再利用的现代VLSI设计方法学 ,允许复杂的RT级组件 ,尤其是算术逻辑单元 (ALU)在设计中重用 。
补充资料:长度测量工具:工具显微镜
以测量显微镜瞄準﹑能在﹑两个坐标内进行测量的通用光学长度测量工具(图1 万能工具显微镜 )。测量显微镜又称主显微镜。它的分划板上有供瞄準用的米字形﹑螺纹轮廓形和其他形状的标线。工具显微镜是20世纪20年代初期发展起来的﹐初期用於螺纹测量等﹐20年代后期出现万能工具显微镜。70年代以后﹐应用光栅测长技术后出现数字显示工具显微镜。80年代中期出现应用电子计算机技术处理测得数据的工具显微镜。 分类和结构 工具显微镜分小型﹑大型和万能 3种类型﹐其常见的测量范围分别为50×25毫米﹐150×75毫米和200×100毫米。它们都具有能沿立柱上下移动的测量显微镜和坐标工作台。测量显微镜的总放大倍数一般为 10倍﹑20倍﹑50倍和100倍。小型和大型的坐标工作台能作纵向和横向移动﹐一般採用螺纹副读数鼓轮﹑读数显微镜或投影屏读数﹐也有採用数字显示的﹐分度值一般为10微米﹑5微米或1微米。万能工具显微镜的工作台仅作纵向移动﹐横向移动由装有立柱和测量显微镜的横向滑架完成﹐一般採用读数显微镜﹑投影屏读数或数字显示﹐分度值为1微米。工具显微镜的附件很多﹐有各种目镜﹐例如螺纹轮廓目镜﹑双像目镜﹑圆弧轮廓目镜等﹐还有测量刀﹑测量孔径用的光学定位器和将被测件投影放大后测量的投影器。此外﹐万能工具显微镜还可带有光学分度台和光学分度头等。 用途和测量方法 工具显微镜主要用於测量螺纹的几何参数﹑金属切削刀具的角度﹑样板和模具的外形尺寸等﹐也常用於测量小型工件的孔径和孔距﹑圆锥体的锥度和凸轮的轮廓尺寸等。工具显微镜的基本测量方法有影像法和轴切法。影像法﹕利用测量显微镜中分划板上的标线瞄準被测长度一边后﹐从相应的读数装置中读数﹐然后移动工作台(或横向滑架)﹐以同一标线瞄準被测长度的另一边﹐再作第二次读数。两次读数值之差即被测长度的量值。图2 用影象法测量样板尺寸 为利用影像法测量样板的L 尺寸。轴切法﹕测量过程与影像法相同﹐但瞄準方法不同。测量时分划板上的标线不直接瞄準被测长度的两边﹐而瞄準与被测长度相切的测量刀上宽度为3微米的刻线﹐以此来提高瞄準精度(见螺纹测量)。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条
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