1) Deep level transient state analysis method
深能级瞬态分析法
1.
Methods The deep level transient state analysis method was used.
方法深能级瞬态分析法。
2) deep level transient spectroscopy
深能级瞬态谱
1.
Pulse neutron radiation induced trap s in neutron-transmutation doped(NTD) Si diodes and their annealing behaviors h ave been investigated by means of deep level transient spectroscopy(DLTS), and c ompared with the results of thermal neutron irradiated samples.
深能级瞬态谱仪 (DL TS)测量表明硅中主要存在五类电活性缺陷 :氧空位 E1(Ec- 0 。
2.
A quantum dot (QD), the behavior of which is to capture and emit carriers like a giant trap, is studied using deep level transient spectroscopy (DLTS) technique.
用原子力显微镜(AFM)进行表面形貌的表征,并利用光致发光(PL)和深能级瞬态谱(DLTS)对InAs量子点进行观测。
3.
Using deep level transient spectroscopy,We studies the defect levels of BSF silicon solar cell irradiated by C,O ions.
对ＢＳＦ硅太阳电池受碳、氧离子辐照前后的深能级瞬态谱进行了研究，结果表明碳、氧离子在硅太阳电池中引入的缺陷能级非常相似。
3) DLTS
深能级瞬态谱(DLTS)
4) DLTS
深能级瞬态谱
1.
75 N layer of GaN based light emitting diode (LED) on SiC substrate was studied using deep level transient spectroscopy (DLTS).
利用深能级瞬态谱 (DLTS)仪对 Si C衬底上 Ga N基光发射二极管 (LED)中 n-In0 。
2.
The fast Fourier transform deep level transient spectroscopy (FFT DLTS) method has the advantages of high sensitivity and high resolution.
相对于传统深能级瞬态谱 (DLTS)方法 ,快速傅立叶变换深能级瞬态谱 (FFT DLTS)方法具有灵敏度高 ,分辨率高等特点 ,但是由于用FFT DLTS方法在处理多能级DLTS系统时存在着系统误差从而限制了该方法的应用 。
3.
Deep Level Transient Spectroscopy (DLTS) was used to study the irradiation-induced defects in GaAs (50A)/GaAlAs (50A) superlattice.
用深能级瞬态谱（ＤＬＴＳ）系统地研究了ＧａＡｓ（５０Ａ）／ＧａＡｌＡｓ（５０Ａ）超晶格中的电子辐照缺陷，证实其亚稳态特性的存在，对其恢复温度、转变条件进行了研究，指出在体材料中不能观察到电子辐照缺陷亚稳态的原因。
6) PDLTS(positron deep level transient spectroscopy)
正电子深能级瞬态谱(PDLTS)
补充资料：瞬态光谱法
分子式：
CAS号：
性质：对由短脉冲产生的瞬态物种(激发态分子或活泼中间体)进行谱学观测的一种技术。
CAS号：
性质：对由短脉冲产生的瞬态物种(激发态分子或活泼中间体)进行谱学观测的一种技术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条