1) X-ray residual stress analysis
X射线残余应力分析
2) X ray stress analysis
X射线应力分析
3) X-ray stress analysis
X射线应力分析
1.
X-ray stress analysis is a nondestructive stress measurement method based on the principle of X-ray diffraction.
X射线应力分析是一种基于X射线衍射原理的无损应力检测方法,应用于铍材时,由于铍的密度低以及对X射线质量吸收系数小,X射线对铍材有较大穿透深度,因此,X射线法可以测试铍材表层一定深度内的应力。
5) analysis of stamping residual stresses
冲压残余应力分析
6) X-ray diffraction
X射线分析
1.
Crystallization process of CoSi2 thin films prepared by radio frequency magnetron sputtering have been investigated by in situ X-ray diffraction.
利用射频磁控溅射方法制备了具有CoSi2成分的非晶薄膜,对非晶薄膜的晶化过程进行了原位X射线分析。
补充资料：残余射线
残余射线
放射学术语。有用射线穿透受检者和荧光屏的铅玻璃或胶片暗盒及其支架结构后残余的X射线。在摄影过程中，可通过选择适宜的管电压、管电流及曝光时间调节残余射线，残余射线与管电压关系最大。另外，在设备制造中，可通过规定防护板的厚度降低残余射线。残余射线为X线防护对象之一。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条