1) X-ray diffraction analysis
X射线衍射分析
1.
Change of macroscopic stress in ZnSe devices during the processing was determined by X-ray diffraction analysis.
用X射线衍射分析技术测定晶体器件在加工过程中宏观应力的变化。
2.
Talc powder in flour was determined by X-ray diffraction analysis(XRD) after isolation of flour with carbon tetrachloride or cineration at high temperature from 500℃ to 750℃.
通过四氯化碳分离或高温灰化,X射线衍射分析测定面粉中掺入的滑石粉。
3.
X-ray diffraction analysis and differenti al thermal analysis(DTA)have been used to study the structure of Pd-20W alloy.
对Pd - 2 0W合金进行X射线衍射分析和差热分析 ,结果表明 :Pd - 2 0W合金是面心立方固溶体 ,合金的晶格点阵参数和晶粒大小随着温度的变化而变化 ,在温度缓慢下降至 75 0℃时出现了超结构转变。
2) XRD
X射线衍射分析
1.
The XRD analysis of sample shown that the crystal-grain dimension, the diffraction peak intensity and the crystal lattice constant were affected by annealing time.
对以铟、锡氯化物为前驱物,采用溶胶-凝胶法制备的掺锡氧化铟薄膜(ITO膜)样品进行了X射线衍射分析,研究了热处理时间对ITO膜的影响,结果表明热处理时间影响ITO膜晶粒的大小、衍射峰的相对强度和晶格常数;热处理时间为15min时,ITO膜晶粒较大,衍射峰择优取向不明显,晶格畸变较小,此时ITO膜的方阻最小。
2.
The XRD analysis of sample showed that the diffraction peak intensity,the crystal lattice constant and crystal-grain dimension were affected by annealing temperature.
采用溶胶-凝胶法以铟、锡氯化物为前驱物制备不同热处理温度下的ITO膜,对制备的ITO膜样品进行X射线衍射分析。
3) X-ray diffraction
X射线衍射分析
1.
X-ray diffraction (XRD) program was improved.
同时,简要介绍运用X射线衍射分析判断新相生成并对其进行表征,探讨制备条件对组成结构的影响,推测反应机理及解决生产中的问题,为制备合格材料提供依据。
2.
Multi-anvil apparatus and X-ray diffraction technology were used to investigate the phase transformation of synthesized NaAlSiO_(4) over a temperature range from 1200 to 2000 ℃ and a pressure range from 22 to 25 GPa.
采用多顶砧静态高温高压实验装置和X射线衍射分析方法研究了合成霞石NaAlSiO4在压力为22～25GPa,温度为1200～2000℃条件下的相变及其产物的晶体学特征,结合前人研究成果探讨了NaAlSiO4的高温高压相变过程和CaFe2O4型NaAlSiO4的稳定性及其地质意义。
3.
X-ray diffraction,including Bragg\'s equation in crystallography,the Fourier transform of helical structures,and Wilkins\' experimental determination of the double helix are discussed.
简述了薛定谔对基因物质的预言和德尔布吕克等人关于DNA是遗传物质的确定;介绍了DNA结构的X射线衍射分析,其中包括在X射线晶体学中的布拉格方程,螺旋结构的傅里叶变换,威尔金斯对双螺旋结构的实验验证;介绍了分子模型方法,其中包括键角与键长,杂化轨道理论,碳四面体型轨道的量子力学计算,在分子的空间构型中氢键的作用。
4) X ray diffraction analysis
X射线衍射分析
1.
With X ray diffraction analysis, phases of complicated aluminum electrolytes with additives which included CaF 2, MgF 2 and LiF et al were studied, and the effect of cooling rate on the formation of phase was also investigated.
利用X射线衍射分析法研究了复杂铝电解质的物相组成 ,同时研究了冷却条件对电解质物相的影响·结果表明氟化钙、氟化锂、氟化镁等添加剂在酸性电解质中的物相要比在碱性电解质中的复杂 ;氧化铝的存在形式与氧化铝的浓度有关 ;氟化钙的物相在不同冷却条件下具有不同的形式·这些结果的获得对工业铝电解质分子比的分析具有重要意
2.
This paper introduces X Ray Diffraction Analysis, the most widely used method in identifying soil minerals, including the principles, testing procedures, diffractometer, sample preparation and the diagram for mineral identification.
介绍了鉴定土中的矿物成分最常用的 X射线衍射分析方法 ,包括分析原理、试验程序、仪器设备、试样制备和结果整理 。
5) X ray diffraction
X射线衍射分析
1.
Through X ray diffraction(XRD) analysis of high rank Carboniferous period coal located in the northern foreland basin of Dabie Orogenic Belt in the eastern China,the evolution character of XRD parameters of high rank coals and the effecting factors are studied.
通过对大别造山带前陆盆地石炭纪含煤岩系高煤级煤的X射线衍射分析 ,探讨了高煤级煤基本结构单元的演化特征及其影响因素。
6) XRD
X-射线衍射分析
1.
The nucleation and crystallization of Li2O-Al2O3-SiO2 glasses which has P2O5、TiO2、ZnF2 as nuclear doses independently are investigated by the differential thermal analysis(DTA),X-ray diffraction(XRD) and the scanning electron microscopy(SEM).
采用差热分析(DTA)、X-射线衍射分析(XRD)和扫描电镜(SEM)等分析手段研究了P2O5、TiO2、ZnF2作为晶核剂对Li2O-Al2O3-SiO2(LAS)系统微晶玻璃形核和晶化的影响。
2.
Based on the analysis of the chemical composition,X-ray diffraction(XRD),infrared spectroscopy(IR),differential thermal analysis(DTA) and scanning electron microscopy(SEM),the characteristics of Handan bentonite were studied.
采用化学成分分析、X-射线衍射分析、红外光谱、差热分析和扫描电镜等分析方法,研究了邯郸膨润土的特征。
补充资料：X射线衍射分析
分子式：
分子量：
CAS号：
性质：晶体受X射线照射时，其中的原子向四周散射X射线。由于晶体具有周期性结构，这些散射X射线相互干涉的结果，只在某些特定的方向上发生衍射线，这种现象称为X射线衍射。各种不同的结晶物质具有不同的晶体结构，其衍射线的方向和相对强度也就各不相同。因此，各种结晶物质具有特定的衍射花样，如同指纹一样各不相同。故可根据多晶的衍射花样来鉴别其化学组成和物相。这就是X射线衍射法进行物相定性分析的基础。由于衍射强度与该物相的含量有关，X射线衍射法也可用于多晶物质的定量分析。根据单晶的衍射花样，可测定晶胞的形状和大小，并由衍射强度数据计算原子的空间位置。此外，X射线衍射法还可用于测定晶体粒度和单晶取向，以及高聚物的结晶度、长周期、择优取向和点阵畸变等。
分子量：
CAS号：
性质：晶体受X射线照射时，其中的原子向四周散射X射线。由于晶体具有周期性结构，这些散射X射线相互干涉的结果，只在某些特定的方向上发生衍射线，这种现象称为X射线衍射。各种不同的结晶物质具有不同的晶体结构，其衍射线的方向和相对强度也就各不相同。因此，各种结晶物质具有特定的衍射花样，如同指纹一样各不相同。故可根据多晶的衍射花样来鉴别其化学组成和物相。这就是X射线衍射法进行物相定性分析的基础。由于衍射强度与该物相的含量有关，X射线衍射法也可用于多晶物质的定量分析。根据单晶的衍射花样，可测定晶胞的形状和大小，并由衍射强度数据计算原子的空间位置。此外，X射线衍射法还可用于测定晶体粒度和单晶取向，以及高聚物的结晶度、长周期、择优取向和点阵畸变等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条