3) film preparation
薄膜制备
1.
Based on some related experiments of modern physics,such as film preparation and detection,etc.
以近代物理实验的薄膜制备与检测等相关实验内容为例,讨论了在教学方法中相关性研究实验专题内容及目标的确定;实验教学的组织与安排及实验成绩的评定。
补充资料:半导体薄膜的制备
半导体薄膜的制备
preparation of semiconductor thin films
半导体薄膜的制备preparation。f semieondue-tor thin films在任何衬底上,生长多晶、微晶及非晶薄膜的技术。一般生长温度均比外延的要低。最常用的方法是化学气相沉积(CVD)。CVD又分为常压CVD(APCVD)、低压CVD(LPCVD)、等离子增强CVD(PECVD)和光CVD(PCVD)等方法。其淀积温度按上列次序而递减(在900一100℃范围内变化)。淀积压力可从常压到7 Pa。反应能可用热能、辉光放电能、光能提供。在实际应用中,淀积的薄膜必须满足下列要求:膜厚均匀,薄膜的结构和成分是可控的,制备上可重复的,价廉,容易实现自动化和安全生产。 对具有很小尺寸的超大规模集成电路(VLSI)器件要求精密的光刻,有各向异性的图形转换和很浅的结。这些条件对淀积薄膜工艺提出了新的要求,主要是淀积温度低,以防止浅结的移动;在各向异性腐蚀的表面上有保持图形的台阶覆盖,使其工艺诱发缺陷低以及生产效率高。按上述要求,CVD方法中,以LPCVD法为最好,因其温度适中,薄膜按化学比组成,均匀性好,损伤小,生产效率高。 半导体薄膜广泛用于集成电路中。其中氮化硅膜有抗氧化能力,可用来实现器件的等平面结构;还有抗Na离子和抗潮性能,借以作为电路的表面保护。氧化硅膜用来作为栅介质和绝缘介质。多晶硅膜可用硅烷在600一650℃热分解得到,多晶硅膜可用作金属一氧化物-半导体(MOS)器件的栅电极、多层布线的导电层和浅结器件的接触材料。多晶硅通常在无掺杂下淀积,AS、P或B等掺杂元素随后用扩散、离子注入的方法引入。非外延薄膜除了在集成电路中应用外,非晶硅膜广泛用于太阳电池制作,非晶硅是用硅烷在低温下热分解得到(见非晶硅制备)。(汪师俊)
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条