2) negative refraction
负折射现象
1.
The condition of negative refraction is analyzed by using the plane-wave method, then the negative refraction at the interface of air and two-dimension photonic crystal is numerically simulated by FDTD.
采用平面波展开法分析三角格子二维光子晶体中负折射现象出现的频率范围,然后用有限时域差分法模拟光在空气和二维三角格子光子晶体界面的折射行为,得到了负折射出现在群速度为负的频段的结论,并且详细比较了光子晶体中不同频率的负折射行为。
2.
Negative refraction can exist in photonic crystals,and the physical significance of negative refraction in one-dimensional photonic crystals is discussed theoretically.
光子晶体中会产生的负折射现象,利用传输矩阵的方法对这一现象进行了详细的研究,得到了一维光子晶体的能带结构、群速度和功率透射谱的解析表达式,在此基础上详细解释了负折射现象的物理意义,并得到了光束在透射面且垂直于传播方向上的横向负位移,从而对光子晶体中的负折射给出了定量的描述。
4) refraction of shock waves
激波折射现象
1.
We investigate numerically refraction of shock waves at ferrum-beryllium(Fe-Be) interface.
用数值方法研究铁-铍介质界面上的激波折射现象。
5) eclectic phenomena
折中现象
6) slant of photostat
偏折现象
1.
The slant of photostat is shown everywhere.
通过对复印文档发生噪声干扰和偏折现象的分析,提出了利用小波方法进行去噪和偏折修正的算法。
补充资料：阿贝折射计
分子式：
CAS号：
性质：测定液体和固体折射率的一种装置，1874年由德国人E.Abbe发明。在刻度盘上根据有关公式标出一系列折射率n值，测定时可直接由刻度盘读出被测试样的n值，使用很方便。测量范围为1.3～1.7，精度Δn=±3×10-4。
CAS号：
性质：测定液体和固体折射率的一种装置，1874年由德国人E.Abbe发明。在刻度盘上根据有关公式标出一系列折射率n值，测定时可直接由刻度盘读出被测试样的n值，使用很方便。测量范围为1.3～1.7，精度Δn=±3×10-4。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条