1) Bottom-pattern
底部刻划
2) characterization
[英][,kærəktəraɪ'zeɪʃn] [美]['kærəktəraɪ'zeʃən]
刻划
1.
A kind of Equivalent Characterization of Bloch Type Space;
Bloch型空间的一种等价刻划(英文)
2.
New characterizations of metrizerble space in terms of g-fuctions;
度量空间的g-函数新刻划
4) scribe key
刻绘底图
5) graduated base
刻度底板
6) mechanical modification
机械划刻
1.
Two different techniques to fabricate nano scale reference materials are investigated in detail: AFM tip induced local surface oxidation on Si substrate and mechanical modification of Au film with an AFM tip.
提出了两种制备纳米结构样板的方法 :Si基底上的原子力显微镜 (AFM )探针诱导阳极氧化工艺和Au膜上的AFM探针机械划刻工艺 。
补充资料：过度刻划
分子式：
CAS号：
性质： 用切割工具刻划时，超过了图形的边界。
CAS号：
性质： 用切割工具刻划时，超过了图形的边界。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条