补充资料：KM理论

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性质：用于描述含有能散射和吸收入射光的微小粒子的系统的光学行为的理论，简称K-M理论(K-M theory)，是由P. Kubelka和F. Munk于1931年提出来的，它的理论基础是假设光的多重散射，即反射被观察到之前，已在系统内由一个粒子到另一个粒子进行了多次反射。根据这一理论推导的库贝尔卡-蒙克方程(Kuelka-Munk equation)。用粒子的光散射系数S和光吸收系数K描述了光的反射或透射，广泛用于颜料配色，特别是电子计算机配色，并用于描述颜料的遮盖力等光学性能。

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