1) channel hot electron
沟道热电子
2) Channel Hot-Electron Injection
沟道热电子效应
3) positron channeling
正电子沟道
4) CHC
沟道热载流子
1.
Then, it is investigated that the interaction of the two reliability problems CHC and ESD in VLSI.
重点讨论了超大规模集成 (VL SI)中两个可靠性问题沟道热载流子 (CHC)退化与静电释放 (ESD)之间的相互作用 ,特别是漏 /源工艺上的均衡和潜在的损伤。
5) electron channeling
电子沟道效应
6) electron population ratio in channel
沟道电子布居率
补充资料：热电子（hotelectron）
热电子（hotelectron）
半导体中的电子可以吸收一定能量（如光子、外电场等）而被激发，处于激发态的电子称为热电子，处于激发态的电子可以向较低的能级跃迁，如果以光辐射的形式释放出能量，这就是半导体的发光现象。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条