1) dual electro-testing configuration four-point probes
双电测组合四探针法
2) the four-point probe measurement
四探针测量法
1.
This paper uses the four-point probe measurement to test the variation of voltage on Sn3.
对无铅互连凸点的电迁移失效过程和四探针测量法的测量误差进行了分析,提出了采用四凸点结构提高测量精度的改进措施。
3) double electrical measurement combination
双电测组合法
4) Four-probe method
四探针法
1.
The four-probe method has been used to measure the magnetoresistance effect of this system in different magnetic fields.
利用磁控溅射制备了不同非磁性层厚度的Fe/Cr多层磁性薄膜系统,利用四探针法测定了该多层膜系统在不同磁场下磁电阻效应,用饱和场法给予佐证,溅射制备的多层膜系统饱和场明显地随Cr层厚度增加而衰减振荡,得出了Fe/Cr多层膜的铁磁反铁磁耦合的交换耦合强度随非磁性层厚度变化的物理规律。
2.
The electric and semiconductor properties were studied by four-probe method, and the results show that the Cu3N thin films are n-type semiconductor.
运用四探针法测量了薄膜的电学和半导体特性,证明了实验制备得到的Cu3N薄膜是一种n型半导体,禁带宽度约为1。
5) Four-point probe method
四探针法
1.
The effect of geometry size for measuring the resistance of amorphous film alloy with the four-point probe and two-four-point probe methods is studied A new method for measuring the resistance of amorphous narrow film alloy with high precision is introduced.
研究了四探针和双四探针法测量非晶态薄膜合金电阻的几何尺寸效应，提出了一种高精度测量非晶态窄带薄膜合金电阻的新方法，理论和实验的研究结果都证明了这种方法的可行性。
补充资料：电位降法测电偶电流
分子式：
CAS号：
性质：一种测定金属电偶腐蚀的简易方法。在被测的电偶对之间接一个已知的低阻值电阻，电偶电流流过时测定电阻两端的电压降，即可算出电偶电流，分析电偶腐蚀的行为。优点：设备简单易得；缺点：由于有一个电压降，故测出的电偶电流总是比电偶对完全短接时的实际电偶电流小。
CAS号：
性质：一种测定金属电偶腐蚀的简易方法。在被测的电偶对之间接一个已知的低阻值电阻，电偶电流流过时测定电阻两端的电压降，即可算出电偶电流，分析电偶腐蚀的行为。优点：设备简单易得；缺点：由于有一个电压降，故测出的电偶电流总是比电偶对完全短接时的实际电偶电流小。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条