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1)  combination probe
组合探针
2)  probe component
探针组分
1.
The kinds and contents of components,different curing atmospheres and substrates are considered to investigatethe characteristics of surface formation of the UV cured materials andtheir surface properties using the indication of probe components.
本课题借助ATR-FTIR(衰减全反射红外分析)和XPS(X射线光电子能谱分析)等手段,利用探针组分(惰性和活性)的指示作用,分别从组分种类、含量、不同固化氛围和基材等角度,分析了UV固化膜表面的特征基团、元素组成等信息,研究了紫外光固化过程中材料表面形成的特点及最终固化膜的表面性能。
3)  probe packet
探针分组
4)  dual electro-testing configuration four-point probes
双电测组合四探针法
5)  L-shaped coupling probe
L型电磁组合探针
1.
And a C-band 16-element array model using L-shaped coupling probes is simulated and measured.
介绍该天线的提出背景及工作原理,利用L型电磁组合探针设计和数值模拟了口径为180×180mm的C波段16单元组合式矩形径向线螺旋阵列天线,并对其进行实验验证。
6)  Multicolor Combinational Probe Coding
多色组合探针编码
补充资料:电子探针(见电子探针显微分析)


电子探针(见电子探针显微分析)
electron probe

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参考词条