补充资料：集成电路测试系统

集成电路测试系统
integrated circuit test system

某·343·集(ATE)产业。IC测试系统的基本功能是检测被测器件(DUI、)的工作特性是否符合器件生产厂家给定的特性要求。系统按其测试的对象不同，大体分为数字IC测试系统、模拟IC测试系统和数模混合信号IC测试系统。 数宇lC侧试系统根据应用领域的不同，可分为通用IC测试系统、IC验证系统和验证测试系统。 对通用IC测试系统的要求是测试的通用性、技术指标的综合性。IC验证系统是一种对少量试制样品进行功能验证的测试设备，主要用于专用集成电路(A-测试计算机子系统测试、侧t子系统 ┌───┐ │系统 │ │控制器│ └───┘ ┌──┐ ┌─────────┐│终端│ │被侧器件 ││ │ ├─────────┤└──┘ │测试夹具 │ ├─────────┤┌───┐ │引脚电子电路 ││外围 │ └─────────┘│设备 │ ┌───┐┌────┐└───┘ │交流测││’直流测│ │量系统││.t系统 │ └───┘└────┘图1数字IC测试系统框图SIC)设计。验证测试系统是在IC验证系统的基础上，增加了直流和交流参数的测试功能，其特点是将IC的设计与测试紧密地联系起来。 测试系统由硬件和软件组成。 系统硬件可分为测试计算机子系统和测试、测量子系统两大部分，其结构如图1所示。 测试计算机子系统包括以下部件: (1)系统控制器一个高速处理部件。通过总线结构对测试系统进行控制，可以完成各种测试、记录和数据处理任务。系统控制器可以采用各种商用计算机。 (2)主存储器与系统控制器相连的高速大容量存储器，用于存储各种原始的测试向量和数据。 (3)图形发生器控制所有测试图形的产生和控制图形序列的处理器，提供测试功能数据，功能指施加、比较、禁止、屏蔽等。 (4)时钟发’l器一个具有多相时钟信号的多重定时集合发’}_器，定时集合可按测试周期实时选择和切换。 (5)外围设备用来满足控制器测试环境要求的部件，如磁盘、磁带、打印机、图形终端等。 (6)矩阵模拟开关矩阵，通过50n矩阵接于测试台。 (7)数据接口主控器与测试台之间的接口，用于测试数据、测试命令等信息交换。 (8)供电电源可编程供电电源的集合。

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