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1)  die cracking
芯片断裂
1.
The die cracking with no-flow underfill is analyzed and compared with the case for conventional capillary-flow underfill.
用断裂力学方法和有限元模拟分析了填充不流动胶芯片断裂问题 。
2)  die rupture strength
芯片断裂强度
3)  core bar break up
芯棒断裂
4)  broken cord rope
芯绳断裂
1.
This paper discusses a new detection method for broken cord rope of steel cord belt by electromagnetic detection principle and computer quantitative treatment technique.
本文利用电磁探伤原理和计算机定量处理技术,研究了钢绳芯输送带芯绳断裂的一种新的检测方法,为及时准确地掌握钢绳芯输送的剩余强度,确保强力带式输送机的安全可靠运行提供了新的途径。
5)  Fracture of die core
模芯断裂
6)  die crack
芯片裂纹
1.
The different failure modes,delaminations,and die cracks are studied and discussed.
通过高温高湿加速实验对双芯片叠层封装器件的失效进行了研究,观察到存在塑封料与上层芯片、BT基板与塑封料或贴片胶的界面分层和下层芯片裂纹等失效模式。
补充资料:A/D芯片
分子式:
CAS号:

性质:又称A/D转换器或A/D芯片,是一种集成电路块,将输入的电模拟量信号(简称模拟输入)转换成数字量(数码)输出。这种集成电路块的规格、型号很多。输出数字位数以二进制数位表示,有8位、10位、12位。

说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条