1) ICB-TOFMS
离子团束-飞行时间质谱计
2) time-of-flight ion mass spectrometer
飞行时间离子质谱计
3) TOF-SIMS
飞行时间二次离子质谱
1.
Measurement of Lead Isotpe by TOF-SIMS;
铅同位素比值的飞行时间二次离子质谱法测量
2.
Study on TOF-SIMS of desmocollinite of C-P coals in Bohaiwan Basin;
渤海湾盆地石炭纪-二叠纪煤中基质镜质体飞行时间二次离子质谱研究
3.
Two major constituents in molding material, cresol epoxy resin and phenolformaldehyde resin, typically used in microelectronics packaging have been characterized by time of flight secondary ion mass spectrometry(TOF-SIMS) together with silver cationization technique.
用飞行时间二次离子质谱（ＴＯＦ－ＳＩＭＳ）结合银离化的方法研究了集成电路封装中常用的环氧模塑料的两种主要成分：邻甲酚环氧树脂和线型酚醛树脂。
4) Time-of-flight secondary ion mass spectrometer
飞行时间次级离子质谱
5) IT-TOF
离子阱-飞行时间质谱仪
1.
After comparing the pros and cons in compound identification with some mass spectrometry techniques widely used nowadays,as well as the recent developments in this field at home and abroad,the potential and future trends of applying Q-TOF and IT-TOF techniques combined with related strategies for identifying the metabolites of natural products are highlighted.
本文综述了复杂基质中代谢物鉴定的质谱技术和分析策略,通过比较目前广泛用于代谢物鉴定的质谱技术的优缺点,以及国内外在代谢物鉴定方面成果,重点讨论和展望了四级杆-飞行时间质谱仪(Q-TOF)、离子阱-飞行时间质谱仪(IT-TOF)技术在天然产物复杂代谢物鉴定方面的巨大优势。
6) time of flight mass spectrometer
飞行时间质谱计
1.
In this paper the pulse measurement used to measure the pulse ionization electron current for electron impact ion source of time of flight mass spectrometer was discussed, the shortcoming of average current measurement was analyzed, and the practical measuring circuit of the pulse was given.
本文讨论了脉冲测量技术在飞行时间质谱计电子轰击离子源中测量脉冲离化电子流的应用 ,分析了平均电流测量方法测量脉冲离化电子流的局限性 ,给出了实际的脉冲测量电
补充资料：飞行时间质谱计
分子式：
CAS号：
性质：根据相同能量的离子质量不同时速度不同的原理，使用电子电离源，施加脉冲拉出电压，再经加速极加快离子速度后进入无场区漂移管。不同质量的离子则以不同的时间通过相同的漂移距离到达接收器。(图暂缺)。飞行时间质谱计扫描速度快，灵敏度高，此设备结构简单，不受质量范围限制。
CAS号：
性质：根据相同能量的离子质量不同时速度不同的原理，使用电子电离源，施加脉冲拉出电压，再经加速极加快离子速度后进入无场区漂移管。不同质量的离子则以不同的时间通过相同的漂移距离到达接收器。(图暂缺)。飞行时间质谱计扫描速度快，灵敏度高，此设备结构简单，不受质量范围限制。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条