1) aberration-corrected transmission electron microscopy
像差校正透射电子显微学
1.
This paper reviews the progress and application of Z-contrast imaging in combination with electron energy loss spectroscopy, sub-Angstrom transmission electron microscopy, aberration-corrected transmission electron microscopy, and characterization of microstructure and in-situ determination of properties in materials.
本文综述了原子分辨率的原子序数衬度成像与原位电子能量损失谱分析、亚埃透射电子显微学、像差校正透射电子显微学和材料的微观结构表征与原位性能测试的最新发展和应用。
4) spherical aberration-corrected electron microscope
球差校正电子显微镜
5) In situ transmission electron microscopy
原位透射电子显微学
6) Sub-Angstrom transmission electron microscopy
亚埃透射电子显微学
补充资料：高分辨电子显微镜(见高分辨电子显微术)
高分辨电子显微镜(见高分辨电子显微术)
high resolution electron microscope
高分辨电子显微镜high resolution eleetronmieroseope见高分辫电子显微术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条