1) transmission electron microscopy
透射电子显微术
1.
The microstructure in the implanted region was studied by transmission electron microscopy.
本文利用透射电子显微术,研究了注入Fe离子的-αAl2O3单晶(sapphire)在还原气氛退火过程中微观结构的变化。
2.
In this papers,we review how energy-filtered transmission electron microscopy is applied to the investigation of quantum dot composition.
本文综述了能量过滤透射电子显微术如何应用于量子点成分的研究。
3.
In this paper we will review transmission electron microscopy(TEM) studies on graphene′s structure,including the layer numbers,stacking,orientation and surface morphology.
文章评述了利用透射电子衍射方法对Graphene的层数、堆垛方式、取向和表面形貌等结构特征进行的研究工作,介绍了利用高分辨透射电子显微术在Graphene的表面缺陷、边缘结构及吸附原子等研究领域取得的最新结果。
4) HRTEM
高分辨透射电子显微术
1.
Trace halides in In(OH)3 nano-aciculae were studied by HRTEM.
采用高分辨透射电子显微术(HRTEM)分析纳米针状In(OH)3粉末中氯元素的存在状态。
2.
Formation of amorphous phase in binary immiscible Cu-Ta thin films prepared by co-sputtering method has been investigated using X-ray diffraction (XRD), high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) and electron dispersive X-ray spectroscopy (EDS).
利用X射线衍射(XRD)、高分辨透射电子显微术(HRTEM)和X射线能谱(EDS)研究了共溅射Cu-Ta薄膜中非晶相的形成。
3.
In this paper, the complicated, various geological abnormality is discovered by means of the selected area electron diffraction (SAED) and high resolution transmission electron microscopy (HRTEM): (1) the regular mixed-layer structure B mS n formed by the ordered stacking of the unit layers in bastnaesite (B) and synchysite (S) of this series in different scales .
四川冕西霓石碱性花岗岩中的稀土矿物主要为钙稀土氟碳酸盐矿物系列 ,通过选区电子衍射 (SAED)和高分辨透射电子显微术 (HRTEM )研究发现该系列矿物晶体结构中广泛发育复杂多样的微观地质异常现象 ,其主要类型有 :( 1)由该系列两个端员矿物氟碳铈矿结构层(B)与直氟碳钙铈矿结构层 (S)以不同比例沿c轴方向有序堆垛形成的BmSn型规则混层结构 ;( 2 )无序堆垛形成的有序 -无序结构晶畴 ;( 3 )由堆垛层错形成的无序混层结构、氟碳钙铈矿中不同多型体间的共格连生结构和相转变等 ;( 4 )氟碳铈矿结构中的平行于 [0 0 0 1]方向的平移畴及一维无公度调制结构 ,该类调制结构可能是由于矿物中原子占位有序度的变化而形成的无序结构状态 。
5) TEM
透射电子显微技术
1.
Scatter particles in KDP crystal grown from different conditions are observed and measured by TEM.
利用透射电子显微技术对不同条件下生长的 KDP晶体中包裹物进行了观察并测量了其相应尺寸。
2.
The inclusions in KDP crystals grown with different methods were detected with TEM (transmission electron microscopy).
利用透射电子显微技术观察了不同条件下生长的KDP晶体中包裹物,并对晶体中的包裹体在热退火前后进行了比较。
补充资料：历术
1.犹历法。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条