1) dielectric thin-film (DTF) interference filter
介质薄膜干涉滤波器
2) medium thin filter
介质薄膜滤波器
3) dielectric thin film filter(TFF)
介质薄膜滤波器(TFF)
4) cascaded medium thin film filter
级联介质薄膜滤波器
1.
A cascaded medium thin film filter used for flattening the gain of erbium-ytterbium co-doped waveguide amplifier is presented.
提出一种用于平坦Er Yb共掺波导放大器增益的级联介质薄膜滤波器,这种级联介质薄膜滤波器由具有不同中心波长与带宽的不同的滤波单元组成,每一个滤波单元可对某一特定波长处的峰值增益进行有效地压缩。
5) Hybrid thin film filter
介质膜干涉滤光片
6) dielectric film filter
介质膜滤波器
1.
Numerical method for analysis of chromatic dispersion characteristics of dielectric film filter;
介质膜滤波器色散特性的数值方法
补充资料：薄膜干涉
| 薄膜干涉 thin film interference 由薄膜产生的干涉。薄膜可以是透明固体、液体或由两块玻璃所夹的气体薄层。入射光经薄膜上表面反射后得第一束光，折射光经薄膜下表面反射，又经上表面折射后得第二束光，这两束光在薄膜的同侧，由同一入射振动分出，是相干光，属分振幅干涉。若光源为扩展光源（面光源），则只能在两相干光束的特定重叠区才能观察到干涉，故属定域干涉。对两表面互相平行的平面薄膜，干涉条纹定域在无穷远，通常借助于会聚透镜在其像方焦面内观察；对楔形薄膜，干涉条纹定域在薄膜附近。 薄膜干涉中两相干光的光程差公式为  式中n为薄膜的折射率；t为入射点的薄膜厚度；θt为薄膜内的折射角；±λ／2 是由于两束相干光在性质不同的两个界面（一个是光疏-光密界面，另一是光密-光疏界面）上反射而引起的附加光程差。薄膜干涉原理广泛应用于光学表面的检验、微小的角度或线度的精密测量、减反射膜和干涉滤光片的制备等。等倾干涉和等厚干涉是薄膜干涉的两种典型形式。
①等倾干涉。如图1，薄膜两表面互相平行，厚度t和薄膜折射率n 均匀， 使用单色扩展光源。同一条入射光线经上下两表面反射后得两束平行的相干光，利用透镜使两束相干光在透镜的像方焦面上叠加，在叠加点两相干光的光程差仅随入射角（或折射角）而变， 同一条纹 （ 等光程差点的轨迹）是由那些相同倾角的入射光产生 ，故名等倾干涉条纹。因两相干光互相平行，在无穷远处相交，故等倾干涉条纹定域在无穷远。图 2是观察等倾干涉条纹的一种装置。从扩展光源发出的光经半反射镜反射后以各种不同倾角入射到平行平面薄膜上，每条入射线产生两平行的相干反射光，借助于透镜在其像方焦面上观察干涉条纹。在幕上将观察到明暗交替的同心圆环状等倾条纹。
②等厚干涉。以平行光入射到厚度不均的薄膜上，从上下两表面反射后得两束相干光，叠加后产生干涉。两相干光在叠加点的光程差仅随薄膜厚度而变，在同一厚度处入射的光形成同一条纹，故名等厚干涉条纹。以楔形薄膜为例，设上下两表面的夹角为a，以单色平行光垂直入射，干涉条纹定域在薄膜附近，并沿薄膜的等厚线。故楔形薄膜的等厚干涉条纹是一组与楔棱平行的直线条纹（图 3）。相邻两条纹的间距为  式中n为薄膜的折射率；λ为光波波长。只需测出Δi，就可根据已知的n和λ求出角度a。
等厚干涉常用于微小角度或微小长度的精密测量，或根据等厚条纹是否发生畸变来检验光学表面的平整度，测量和检验的精度至少可达光波波长的数量级（～10-7米）。 |
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条