1) thin film interference filter
薄膜干涉滤光片
1.
Study and application of the thin film interference filter′s monochromatic;
薄膜干涉滤光片单色性的研究与应用
2.
The basic performance of thin film interference filters used in Mux/Demux systems is presented.
介绍了波分复用系统对薄膜干涉滤光片的基本要求 ,为了满足这些要求 ,一方面需要精心选择基板和薄膜材料 ,另一方面要寻找性能优良、制造容易的膜系。
2) thin-film interference filters
薄膜干涉滤光片
1.
The deterioration in the performances of the infrared thin-film interference filters at low-temperature is crucial to the spaceborne remote sensing instruments.
红外薄膜干涉滤光片性能在低温下的变化是空间遥感系统中的一个关键性问题。
3) optical thin film bandpass filter
光学薄膜干涉滤光片
4) Hybrid thin film filter
介质膜干涉滤光片
5) interference filter
干涉滤光片
1.
Application and Study of the Interference Filter with High Singal-to-Noise Ratio;
高信噪比干涉滤光片的应用与研究
2.
A special optical bistable device by using the interference filter with ZnS or ZnSe specers is introduced.
讨论了光学双稳态现象以及光学双稳开关器件的工作原理，报道了以ＺｎＳ或Ｚｎｓｅ作为工作介质的干涉滤光片型光学双稳开关器件，讨论了该类器件的主要性能及设计参数间的关系，进而提出了如何实现双稳开关器件的优化参数设计，制备出性能优异的滤光片型光学双稳器件，并报道了用增加Ｆ－Ｐ腔间隔层厚的方法，大大提高了器件的工作稳定性。
3.
Based upon the specifications of the extremely narrow-band interference filters in DWDM systems, it is indicated that application of λ_0/4 regular thin film assemble is the most optimal choice in production of such filters.
针对现代光通信中的核心元件之一——密集型波分复用 (DWDM)系统中极窄带光学薄膜干涉滤光片的指标要求 ,提出采用基于四分之一波长的规整膜系是实现密集型波分复用功能的最佳选择。
6) thin film filter
薄膜滤光片
1.
In-situ optical monitoring system for thin film filter deposition processes;
薄膜滤光片淀积过程实时光学监控系统
2.
76 ps by means of combination of a 50 GHz narrow band thin film filter and RPC filter.
设计了一种基于薄膜干涉理论的反射式相位补偿器件 ,用以补偿密集型波分复用窄带滤光片所产生的群延迟 ,使 5 0GHz薄膜滤光片的群延迟特性适应于 4 0Gb/s系统的要求 ,在 0 。
3.
Two approaches of building DWDM component incorporated with optical interleaver and thin film filter modules are discussed.
对光梳状滤波器加薄膜滤光片型模块制作密集波分复用器 (DWDM )的两种应用方案进行了研究 ,提出了一种提高插损一致性、信道隔离度及减小串扰的结构方案。
补充资料：薄膜干涉
| 薄膜干涉 thin film interference 由薄膜产生的干涉。薄膜可以是透明固体、液体或由两块玻璃所夹的气体薄层。入射光经薄膜上表面反射后得第一束光，折射光经薄膜下表面反射，又经上表面折射后得第二束光，这两束光在薄膜的同侧，由同一入射振动分出，是相干光，属分振幅干涉。若光源为扩展光源（面光源），则只能在两相干光束的特定重叠区才能观察到干涉，故属定域干涉。对两表面互相平行的平面薄膜，干涉条纹定域在无穷远，通常借助于会聚透镜在其像方焦面内观察；对楔形薄膜，干涉条纹定域在薄膜附近。 薄膜干涉中两相干光的光程差公式为  式中n为薄膜的折射率；t为入射点的薄膜厚度；θt为薄膜内的折射角；±λ／2 是由于两束相干光在性质不同的两个界面（一个是光疏-光密界面，另一是光密-光疏界面）上反射而引起的附加光程差。薄膜干涉原理广泛应用于光学表面的检验、微小的角度或线度的精密测量、减反射膜和干涉滤光片的制备等。等倾干涉和等厚干涉是薄膜干涉的两种典型形式。
①等倾干涉。如图1，薄膜两表面互相平行，厚度t和薄膜折射率n 均匀， 使用单色扩展光源。同一条入射光线经上下两表面反射后得两束平行的相干光，利用透镜使两束相干光在透镜的像方焦面上叠加，在叠加点两相干光的光程差仅随入射角（或折射角）而变， 同一条纹 （ 等光程差点的轨迹）是由那些相同倾角的入射光产生 ，故名等倾干涉条纹。因两相干光互相平行，在无穷远处相交，故等倾干涉条纹定域在无穷远。图 2是观察等倾干涉条纹的一种装置。从扩展光源发出的光经半反射镜反射后以各种不同倾角入射到平行平面薄膜上，每条入射线产生两平行的相干反射光，借助于透镜在其像方焦面上观察干涉条纹。在幕上将观察到明暗交替的同心圆环状等倾条纹。
②等厚干涉。以平行光入射到厚度不均的薄膜上，从上下两表面反射后得两束相干光，叠加后产生干涉。两相干光在叠加点的光程差仅随薄膜厚度而变，在同一厚度处入射的光形成同一条纹，故名等厚干涉条纹。以楔形薄膜为例，设上下两表面的夹角为a，以单色平行光垂直入射，干涉条纹定域在薄膜附近，并沿薄膜的等厚线。故楔形薄膜的等厚干涉条纹是一组与楔棱平行的直线条纹（图 3）。相邻两条纹的间距为  式中n为薄膜的折射率；λ为光波波长。只需测出Δi，就可根据已知的n和λ求出角度a。
等厚干涉常用于微小角度或微小长度的精密测量，或根据等厚条纹是否发生畸变来检验光学表面的平整度，测量和检验的精度至少可达光波波长的数量级（～10-7米）。 |
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条