1) latch-up test
闩锁测试
2) latch-up
闩锁
1.
Latch-up Free Design of SCR-Based ESD Protection Circuits
基于SCR的ESD保护电路防闩锁设计
2.
Based on the analysis of two protection methods,an over-current protection circuit which can improve the integrated regulators latch-up effect is proposed.
分析了两种过流保护方法的功能及优缺点,研究并提出了一种可应用于集成稳压器中改善闩锁效应的foldback过流保护电路。
3.
Several problems about latch-up experience in the reliability design of multiplex power supply systems are studied.
对在多级电源系统可靠性设计中遇到的几个关于闩锁的问题进行了研究,针对闩锁产生的原因进行分析,并提出解决方法。
3) latch up
闩锁
1.
Based on the analyzing of latch up issues in Power IC, a way was used to improvelatch up immunity, that is a minority carrier guarding which connects to GND between high voltagedevice and low voltage device.
在分析功率集成电路中闩锁效应的基础上,采取一种抗闩锁方法,即在高低压之间做一道接地的少子保护环。
2.
Controlled hole injection LIGBT (CI LIGBT) is proposed in the paper,which can effectively control the hole injection with high anode voltage,and its latch up free characteristics can be improved.
本文提出空穴注入控制型横向绝缘栅双极晶体管 (CI LIGBT) ,可有效控制高压下阳极区空穴注入 ,提高器件的抗闩锁性能 。
4) Latch
[英][lætʃ] [美][lætʃ]
闩锁
1.
The Latch Fault Caused by Radiation in Satellite Device and One Preventive Method;
空间通信设备的辐射闩锁故障及对策
2.
CMOS Circuit Latch Resulted from Leakage of Instrument;
仪器漏电引起的CMOS电路闩锁
3.
The supply voltage and output voltage(output voltage just before latch) of CMOS latch effect under different static gate trigger voltage(input voltage)are measured.
测试了不同静态栅极触发电压(输入电压)下诱发CMOS闩锁效应需要的电源电压和输出电压(即将闩锁时的输出电压),发现静态栅极触发CMOS闩锁效应存在触发电流限制和维持电压限制两种闩锁触发限制模式,并且此栅极触发电压-输出电压曲线是动态栅极触发CMOS闩锁效应敏感区域与非敏感区域的分界线。
6) latch-up effect
闩锁效应
1.
Study on the mechanism of Latch-up effect in CMOS IC and its countermeasures;
CMOS集成电路闩锁效应的形成机理和对抗措施研究
2.
A gate-controlled PMOS transistor is also used to immunize its latch-up effects.
相比传统级联二极管串(CDS)结构,新结构利用插入的SCR管减小了钳位电路的泄漏电流和导通电阻,提高了电路的抗ESD能力;利用栅控的PMOS管,提高了维持电压,抑制了闩锁效应。
补充资料：测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
check of the acceptability of test results and determination of the final test result
C凡(3)二3.3d，时，取此3个结果的平均值作为最终侧试结果;否则取它们的中位数作为最终测试结果。。，为重复性标准差(即在重复性条件下所得侧试结果的标准差)。 在口田T 11792一1989中还对重复性和再现性条件下所得侧试结果可接受性的检查方法和最终测试结果的确定做了详细讨论和规定。(马毅林)ceshi 11叩uo kejieshCxjxing d6 iiancha he zuizhong ceshi】i闪旧de que心ing测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定(checkof山eac，ptability of test，ults助ddsterminationofthefi耐testresult)在商品检验中进行一次测试的情形不多见，当得到一个测试结果时，所得结果不可能直接与给定的重复性标准差作可接受性的检查。对测试结果的准确性有任何疑问时都应再进行一次测试。所以，对两个测试结果进行可接受性的检查是一般的情况。 可接受性的检查，实际上是一种统计检验。任何两个测试结果只要能通过可接受性的统计检验即可认为是一致的，均可接受。比如，在重复性条件下，所得结果之差的绝对值(下称绝对差)不超过相应的重复性限r(见重复性和再现性)的值，则认为两个结果是一致的，均可接受;如果两个侧试结果的绝对差超过r，则认为它们是不一致的，必须增加测试。 按国家标准《测试方法的精密度在重复性或再现性条件下所得测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定》(GBIT 1 1792一1989)，在重复性条件下，如果两个测试结果的绝对差不超过r的值，可取两个侧试结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较低，须再做两次测试。当4个结果的极差(即其中的最大值与最小值之差)不超过相应的临界极差c，瓜(4)二3.6a，时，取4个结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较高时，只须再作一次测试。当3个结果的极差不超过相应的临界极差
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条