1) Quantum dot infrared photodetector
量子点红外探测器
1.
Quantum dot infrared photodetector(QDIP) exhibits some advantages such as operation under the normal incidence infrared irradiation without fabricating the surface gratings and higher working temperature compared with quantum well infrared photodetector.
与量子阱红外探测器相比,量子点红外探测器具有不制作表面光栅就能在垂直入射红外光照射下工作以及工作温度更高等优势。
2.
The quantum dot infrared photodetectors(QDIPs) with p-i-n struture are fabricated using the stacked Ge quantum dots as active layers.
在此基础上,流水制作了p-i-n结构的量子点红外探测器。
2) quantum-dot infrared photodetector
量子点红外光子探测器
3) infrared quantum detector
红外量子探测器
4) quantum wire infrared photodetector
量子线红外光子探测器
1.
The quantum wire infrared photodetectors(QRIP) are based on intersubband transitions in semiconductor quantum wires and have the potential for higher operational temperature,increased signal-to-noise ratio,reduced dark current,wider spectral range and sensitivity to normal incident radiation due to their unique electronic properties.
基于半导体量子线子能带间跃迁的量子线红外光子探测器(QRIP)由于其独特的电子性质,具有工作温度较高、信噪比较高、暗电流较低、光谱范围较宽以及垂直入射光响应等特点。
5) quantum well infrared detector
量子阱红外探测器
1.
The response peak wavelength of a quantum well infrared detector was predicted directly by measuring Raman spectrum of multiquantum well materials.
通过测量多量子阱材料的Raman散射谱,可以预测出:由该种材料制出的量子阱红外探测器的响应峰值波长。
6) quantum well infrared photodetector
量子阱红外探测器
1.
Achieving the energy level position in quantum wells of quantum well infrared photodetectors (QWIPs) is the base of designing QWIP other parameters.
量子阱中能级位置的确定是获得量子阱红外探测器其它设计参数的基础。
2.
Broadband 3—5μm quantum well infrared photodetectors have been successfully grown by molecular beam epitaxy.
采用分子束外延方法在 Ga As衬底上生长了 n型掺杂的应变 In Ga As/Al Ga As多量子阱结构 ,制作成 3— 5μm波段的量子阱红外探测器 ,响应峰值波长 λp=4。
补充资料：多元红外探测器
由多个单元红外探测器按一定规则排列而成的线列或面阵器件，有时也称为多元阵列器件。多元探测器可由光电导探测器或光伏探测器组成，也可以由热释电型探测器组成，主要用于红外成像系统。利用光刻、离子蚀刻等半导体工艺技术，可在组分均匀、结构完整的单片半导体材料上制成一维线列或二维面阵，或以其他几何方式排列的多元探测器。也可以用镶嵌的方式制成多元探测器。常用的多元探测器的形状有6×8二维面阵、20元竖线列阵和16元横线列阵。采用多元探测器的优点是:①提高成像系统的信噪比。如采用n元探测器线列器件实行并扫，则成像系统的信噪比可比使用单元探测器提高倍；②降低对探测器性能的要求。由于探测器元数增加而扫描一幅图像的时间不变，像元在每个敏感元上的滞留时间可增加到单元器件的n倍,从而使一些响应时间较长的探测器能得到应用；③降低成像系统的扫描速度，简化扫描机构。当多元面阵器件的元数与像元数相等时（即"凝视"器件），成像系统可免去机械扫描机构。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条