1) AFM probe
AFM探针
1.
This characteristic of etching processes will bring about some technical difficulties in fabricating AFM probe and reduces the realizable number of silicon tip per .
如此高的削角速率会给AFM探针的制作带来技术上的困难。
2) AFM tip scratching
AFM探针刮擦
3) Atomic force microscope tip
AFM针尖
4) Atomic force microscopy
AFM
1.
An atomic force microscopy study of the growth mechanism of a potassium perchlorate single crystal grown using the gel method;
用AFM观测凝胶法下KClO_4晶体的生长机理
2.
The working principles of several advanced surface analysis instrument including X-ray photoelectron spectroscopy(XPS),atomic force microscopy(AFM) and time of flight secondary ion mass spectroscopy(ToF-SIMS) are introduced, their successful application in fiber surface analysis recent years is reviewed.
介绍了先进的表面分析仪器化学分析电子能谱(XPS)、原子力显微镜(AFM)、含飞行时间分析器的二次离子质谱仪(ToF-SIMS)的工作原理,回顾了近年来它们在植物纤维表面分析中的成功应用,综合利用XPS、AFM及ToF-SIMS方法,可分析和解决制浆造纸过程中的现象和问题。
3.
The morphology of self\|assembled monolayers of mercapto methoxy poly(ethylene glycol) (MPEG) and its complex film with poly(acrylic acid) were investigated with atomic force microscopy.
利用AFM技术研究了聚丙烯酸在末端硫醇化的聚乙二醇分子自组装膜表面形成复合膜的表面形态及影响因素 ,发现溶液浓度和离子强度对复合膜的表面形态及粗糙度有较大影
5) AFM Tip Broadening Effect
AFM针尖展宽效应
6) AFM tip induced oxidation
AFM针尖诱导氧化
1.
The mechanism of AFM tip induced oxidation is analyzed in details.
通过 AFM针尖诱导氧化加工 Ti膜的实验得到了凸出的 Ti膜氧化物高度与偏置电压成线性关系 ,并和针尖扫描速度成负对数关系 ,在前人的基础上深化了 AFM针尖诱导氧化加工的机理和理论模型 ,分析得到了合适的加工条件即 :偏压为 8V,扫描速度为 0 。
2.
the thickness and characteristics of Ti film become very important factors in quality control of fabricating the Ti oxide line/circuit figures by AFM tip induced oxidation.
采用金属Ti-SOS结构的纳米器件,Ti膜的厚度和成膜质量成为影响基于AFM针尖诱导氧化加工Ti纳米氧化线/电路图形结构质量的重要因素。
补充资料：电子探针(见电子探针显微分析)
电子探针(见电子探针显微分析)
electron probe
气二J一，不f丁electron orobom由不，‘.，*二
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条