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1)  Tip of Probe
探针针尖
2)  tipless cantilever
无针尖探针
1.
A tipless cantilever was used to measure the elastic modulus of the single voxel with the ellipsoid shape.
借助于原子力显微镜,选用无针尖探针对成型点的力学性能进行了测试,建立了椭球-平面接触的弹性力学模型。
2.
Using a tipless cantilever,the mechanical properties of SCR500 voxels are measured by AFM.
借助原子力显微镜,选用无针尖探针测量了材料为SCR500的成型点的力学性能,由于成型点的形状为椭球,根据测量方法建立了球-平面探针接触的Johnson-Kendall-Roberts弹性接触模型,考虑到成型点剩余部分形变对结果分析的影响,推算出单个成型点的弹性模量。
3)  tip of scanning microscopy
显微镜探针针尖
1.
The use of carbon nanotubes as tip of scanning microscopy, materials of gas sensors, modified electrode, gas chromatographic packing materials and detector of liquid chromatography is mainly discussed.
主要讨论了碳纳米管在扫描显微镜探针针尖、气体传感器、化学修饰电极和化学分离与检测等方面的应用。
4)  cantilever tip probe
悬臂梁-针尖探针
5)  tipless contilever
无针尖微探针
6)  conductive tips
导电探针尖
补充资料:电子探针(见电子探针显微分析)


电子探针(见电子探针显微分析)
electron probe

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参考词条