1) glancing method
掠射侧倾法
3) critical reflection method
掠射法
1.
The paper compares the theorems and the results of two method about liquid refractive ratio-critical reflection method and measuring interference patlern radius by Newton s ring and identifies which one is better.
对两种测量液体折射率方法(掠射法和用牛顿环测干涉条纹半径)的理论与实验结果的比较,辨别测量液体折射率方法的优劣。
4) lean firing
侧倾射击
1.
The reasons of deflection when the antitank missile is under lean firing were presented;and mathematical model of ballistic deflection was built to give quantitative analysis for ballistic deflection when the antitank missile lean firing.
论述某反坦克导弹侧倾射击时产生偏差的原因;通过受力分析和坐标系变换并经过推理运算,建立弹道偏差的数学模型,从而定量分析侧倾射击时某反坦克导弹的弹道偏差;结合射手训练的实际,给出侧倾射击时弹道偏差修正的具体操作及侧倾射击时的注意事项。
5) side-incline method
侧倾法
1.
The results show that the glancing side-incline method has the merits of shallow penetrotion depth,little chage on penetration depth with ψ angle,little effect on texture,and having no separation of positive and negative ψ curves during testing unstressed examples,so it is a kind of testing method that is more suitable for measuring the stress of thin film.
对比了薄膜 X射线应力测试的三种衍射几何 ,结果表明掠射侧倾法具有透入深度浅、透入深度随ψ角变化不大、对织构影响不敏感以及没有无应力试样的正、负ψ曲线分离等优点 ,所以掠射侧倾法是一种更适于薄膜应力测量的测试方法。
6) Side illumination measure
倾侧光照法
补充资料：掠射角X射线衍射法
分子式：
CAS号：
性质：采用了掠射角几何条件(入射角>75°)的X射线衍射法。以掠射角入射的X射线束的穿透力被限制，大大提高了分析样品的表面分析灵敏度，且能分析体积相对较大的样品，甚至薄层分析也成为可能。该技术适用于特殊晶相的识别，微晶方位及其尺寸分布的研究，吸附原子位置的测定；与电子衍射法相比，具有较高的角分辨率。
CAS号：
性质：采用了掠射角几何条件(入射角>75°)的X射线衍射法。以掠射角入射的X射线束的穿透力被限制，大大提高了分析样品的表面分析灵敏度，且能分析体积相对较大的样品，甚至薄层分析也成为可能。该技术适用于特殊晶相的识别，微晶方位及其尺寸分布的研究，吸附原子位置的测定；与电子衍射法相比，具有较高的角分辨率。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条