1) Long focal length measurement
长焦距测量
1.
On the basis of Talbot effect and moire fringe technology, a novel method for the long focal length measurement of large aperture lens was presented.
本课题完成了整套长焦距测量系统的样机开发工作。
2) focal length measurement
焦距测量
1.
Research on focal length measurement based on digital image processing;
基于数字图像处理方法的焦距测量技术研究
2.
A new method for long focal length measurement is presented, which is accomplished by obtaining the angle of moiré stripe formed by Talbot effect of Ronchi grating.
这种长焦距测量方法具有实时测量、精度高的特点。
3.
Based on these, a novel method for long focal length measurement is presented, which is achieved by calculating the angle of Moire fringes formed by Talbot image of one Ronchi grating and another Ronchi grating.
本文介绍了焦距测量的常用方法，并且结合本课题的应用背景，以Ronchi光栅为例对Talbot效应和Moiré条纹现象进行了理论分析和公式推导。
3) thermal lens focal length
热焦距测量
4) long distance measurement
长距测量
5) focal length
焦距;焦长
6) long range measurement
长距离测量
补充资料：长度测量工具：比长仪
以不接触光学定位方法瞄準被测长度﹐主要用於测量线纹距离的精密长度测量工具。
比长仪一般採用测量显微镜或光电显微镜作为瞄準定位部件﹐并以精密线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度﹐与被测长度比较而确定量值。比长仪主要用於检定线纹尺﹐测量分划板上的线距和物理﹑天文类照相底片上的光波谱线距离﹐也可用於测量孔径。
比长仪按结构布局分为纵向的和横向的两类。纵向比长仪採用线纹尺作为已知长度﹐且结构设计符合阿贝原则(见长度测量工具)﹐称为阿贝比长仪(见图 阿贝比长仪 )。
测量时﹐先用测量显微镜瞄準被测线条﹐从读数显微镜读得一数值。然后移动工作台﹐再用测量显微镜瞄準另一被测线条﹐从读数显微镜读得另一数值。这两个数值之差即是被测两线条间距离。横向比长仪的被测长度和已知长度是并列布置的﹐这种布局可以缩短导轨长度﹐但要求导轨精度高。採用爱宾斯坦光学系统﹐可以补偿结构不符合阿贝原则而產生的测量误差。以光电显微镜代替上述两种显微镜者﹐称为光电比长仪﹔採用激光或其他单色光波长作为已知长度者﹐分别称为激光比长仪和光电光波比长仪。阿贝比长仪的测量精确度为±1～±1.5微米/200毫米﹐光电比长仪可达到±0.5微米/1000毫米﹐而光电光波比长仪和激光比长仪则可达到±0.2微米/1000毫米。
比长仪一般採用测量显微镜或光电显微镜作为瞄準定位部件﹐并以精密线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度﹐与被测长度比较而确定量值。比长仪主要用於检定线纹尺﹐测量分划板上的线距和物理﹑天文类照相底片上的光波谱线距离﹐也可用於测量孔径。
比长仪按结构布局分为纵向的和横向的两类。纵向比长仪採用线纹尺作为已知长度﹐且结构设计符合阿贝原则(见长度测量工具)﹐称为阿贝比长仪(见图 阿贝比长仪 )。
测量时﹐先用测量显微镜瞄準被测线条﹐从读数显微镜读得一数值。然后移动工作台﹐再用测量显微镜瞄準另一被测线条﹐从读数显微镜读得另一数值。这两个数值之差即是被测两线条间距离。横向比长仪的被测长度和已知长度是并列布置的﹐这种布局可以缩短导轨长度﹐但要求导轨精度高。採用爱宾斯坦光学系统﹐可以补偿结构不符合阿贝原则而產生的测量误差。以光电显微镜代替上述两种显微镜者﹐称为光电比长仪﹔採用激光或其他单色光波长作为已知长度者﹐分别称为激光比长仪和光电光波比长仪。阿贝比长仪的测量精确度为±1～±1.5微米/200毫米﹐光电比长仪可达到±0.5微米/1000毫米﹐而光电光波比长仪和激光比长仪则可达到±0.2微米/1000毫米。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条