1) low angle scattering of x ray
x线小角散射
2) Small Angle X-Ray Scattering
X射线小角散射
1.
Determination of particle size distribution of nanometer-sized powder by small angle X-ray scattering method;
X射线小角散射法测量纳米粉末的粒度分布
2.
5—20 nm in fibers was studied using the small angle X-ray scattering technique.
用X射线小角散射技术研究了600,700,900,1200,1300℃制备的碳化硅(SiC)纤维中在0。
3.
By means of small angle X-ray scattering, the fractal dimension D for carbonfiber nanometer micropore inner surface is studied.
应用X射线小角散射方法研究了炭纤维纳米微孔内表面特征的分形维数D。
3) small angle X-ray scattering
小角X射线散射
1.
Experimental investigation of insensitive explosive C_6H_6N_6O_6 by small angle x-ray scattering technique;
三氨基三硝基苯材料微孔结构的小角x射线散射实验研究
2.
Size evaluation and fractal characteristic of nano-sized nickel powder by small angle X-ray scattering;
纳米镍粉内团聚的小角X射线散射的分形表征
3.
Analysis of nano-micropore in different carbon fiber by small angle X-ray scattering;
小角X射线散射对不同碳纤维的比较和分析
4) small-angle X-ray scattering
X射线小角散射
1.
The microstructure of hydrogenated microcrystalline silicon thin films studied by small-angle x-ray scattering ;
利用x射线小角散射技术研究微晶硅薄膜的微结构
2.
The molecular network mesoscopic structure of low dimension silicates [CaO-Al2O3-SiO2(GCAS)serials gels] has been measured and studied by small-angle X-ray scattering(SAXS).
应用X射线小角散射技术(SAXS)测定和研究了由溶胶凝胶法合成的CaO-Al2O3-SiO2系列(GCAS)低维硅酸盐分子网络的介观结构,研究结果表明低维硅酸盐分子网络的分数维值(D)定量反映了网络构象的蠕变特征,回旋半径(Rg)定量描述了网络团粒结构的尺度及其聚合程度,这些参数对低维硅酸盐材料的结构表征及其开发应用,提供了重要的理论依据。
5) SAXS
X射线小角散射
1.
Granularity Measurement of Particles in Nitride Iron Magnetic Fluid by SAXS Method;
X射线小角散射测量氮化铁磁性液体中颗粒的粒度
2.
Small Angle X-ray Scattering(SAXS),Photon Correlation Spectroscopy(PCS)and transmission electron microscopy(TEM)-image analysis are discussed in terms of their principles,applications,advantages and disadvantages.
主要讨论了X射线小角散射法、光子相关谱法和透射电镜-图像分析法的原理、适用范围及其优缺点。
6) SAXS
小角x射线散射
1.
Dependence of silica sol properties on synthesis situation studied by SAXS;
小角x射线散射法研究氧化硅溶胶的制备环境依赖性
2.
ANALYTIC METHODS APPLIED TO SLIT SMEARED INTENSITY DATA OF SAXS;
小角X射线散射模糊数据解析方法
3.
A Positive Deviation from Porod' s Law in SAXS of Porous ZrO_2 Xerogels;
小角X射线散射中Porod正偏离的校正
补充资料：X射线小角散射
分子式：
CAS号：
性质： 一种区别于X射线大角（2θ从5 ～165 ）衍射的结构分析方法。利用X射线照射样品，相应的散射角2θ小（5 ～7 ），即为X射线小角散射。用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体物质中的超细空穴）的大小、形状及分布。对于高分子材料，可测量高分子粒子或空隙大小和形状、共混的高聚物相结构分析、长周期、支链度、分子链长度的分析及玻璃化转变温度的测量。
CAS号：
性质： 一种区别于X射线大角（2θ从5 ～165 ）衍射的结构分析方法。利用X射线照射样品，相应的散射角2θ小（5 ～7 ），即为X射线小角散射。用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体物质中的超细空穴）的大小、形状及分布。对于高分子材料，可测量高分子粒子或空隙大小和形状、共混的高聚物相结构分析、长周期、支链度、分子链长度的分析及玻璃化转变温度的测量。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条