1) μ?XRF
微束X荧光分析谱仪
2) μ-XRF
微束X射线荧光分析法
1.
Differentiation of Laser Printer Toners by μ-XRF;
微束X射线荧光分析法鉴别激光打印机墨粉的研究
4) X ray fluorescence spectrometry
X荧光光谱分析
5) X fluorescence spectrometry analysis
X荧光谱分析
1.
This paper makes an inquiry into the seek peak algorithms of X fluorescence spectrometry analysis and discusses four kinds of algorithms and their processing and realization.
作者针对 X荧光谱分析的寻峰算法 ,分析探讨了在寻峰中四种算法的原理和实践。
6) X-ray fluorometric analyzer
型X-荧光分析仪
1.
Application and practice of the MDX1060 X-ray fluorometric analyzer;
MDX1060型X-荧光分析仪的应用与实践
补充资料：微束质子X射线荧光分析
分子式：
CAS号：
性质：又称微束质子X射线荧光（micro PIXE）分析或质子显微镜（proton microscope）分析。系用微米质子束对样品进行微区扫描的元素分析技术。基本原理是将高速质子束准直、聚焦或微米束轰击样品，质子与样品原子相互作用产生特征X射线，用Si(Li)探测器测定样品中元素的含量。特点是样品用量少（几个μm3）、灵敏度高（比扫描电镜高2～3个数量级）、检测限低（1×106～10×106）、精确度为10%～20%、空间分辨率为0.5～10μm，为非破坏性多元素（20～30个）同时分析，并可二维扫描，获得微区或一个点（～1μm）上的元素分布信息。近年来此技术在环境样品中如大气颗粒物（飞灰、煤尘）单个颗粒的元素分析也得到了应用。SPM是当代物理分析的高新技术，其应用范围及作用将日益扩大。
CAS号：
性质：又称微束质子X射线荧光（micro PIXE）分析或质子显微镜（proton microscope）分析。系用微米质子束对样品进行微区扫描的元素分析技术。基本原理是将高速质子束准直、聚焦或微米束轰击样品，质子与样品原子相互作用产生特征X射线，用Si(Li)探测器测定样品中元素的含量。特点是样品用量少（几个μm3）、灵敏度高（比扫描电镜高2～3个数量级）、检测限低（1×106～10×106）、精确度为10%～20%、空间分辨率为0.5～10μm，为非破坏性多元素（20～30个）同时分析，并可二维扫描，获得微区或一个点（～1μm）上的元素分布信息。近年来此技术在环境样品中如大气颗粒物（飞灰、煤尘）单个颗粒的元素分析也得到了应用。SPM是当代物理分析的高新技术，其应用范围及作用将日益扩大。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条