1) Test Set Minimization
测试集极小化
2) test suite minimization
测试用例集极小化
1.
Research of Test Suite Minimization Algorithm;
测试用例集极小化算法的研究
3) minimum test set
最小测试集
4) Test set optimization
测试集优化
1.
According to the actual characteristics of fault test set optimization,the particle expression and coding rule are constructed,and the speed-position model of PSO is established for fault test set optimization of digital integrated circuits.
文中利用粒子群优化算法生成最小完备测试集,根据故障测试集优化问题的具体特点,构造粒子的表达方式和编码规则,建立粒子群的速度—位置模型;同时为提高优化效率,引入混沌优化算法来初始化粒子群。
2.
In this paper,a test set optimization method based on the genetic reordering is presented,which optimizes the row vectors order of the test set s vector-fault matrix by genetic algorithm and adopts the row-column elimination as the evaluation method in the genetic process.
测试集优化是数字电路测试的一个基本问题。
5) test suite reduction
测试集简化
1.
In this paper,we propose three approaches to reduce test suite with concept analysis and greed algorithm,extend incremental test suite reduction,propose test suite reduction approach for deleting obsolete user session.
本文使用概念分析这一数学方法,并结合贪心算法提出了三种测试集简化方法,同时扩展了测试集的动态简化,提出了移除过时用户会话的测试集简化方法。
6) Minimum Regression Test Suit
最小回归测试集
补充资料：极小集
极小集
minimal set
极小集【而顽加目set;MH皿“M~oeM肋撰c卿1 l)R~nn空间中的极小集是极小曲面(而月面目51止自仗)的推广极小集是Rier姐nn空间M”中的灭维闭子集X。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条