1) Projection area measuring system
投影面测量系统
2) stereographic survey
球面投影测量
3) projective measurement
投影测量
1.
It is found that a bipartite qutrit orthogonal projective measurement,an auxiliary qutrit particle and corresponding unitary transformation are required.
在该方案中,用两个非最大三维两粒子纠缠态作为量子信道,通过三维两粒子的投影测量、引入辅助的三维单粒子并运用相应的幺正变换可实现量子态的几率远程制备。
2.
By making use of the projective measurement, we realize the quantum dense coding scheme between one-sender and multi-receiver.
本文利用不同希尔伯特空间的粒子构成的非对称量子通道，进行了多方和控制量子密集编码的研究，在多个传送者一个接收者的量子密集编码方案中，本文提高了传送的经典信息量；通过借助投影测量，实现了一个传送者多个接收者的量子密集编码方案，在控制量子密集编码方案中，我们利用非对称的多体纠缠态，给出了一种量子控制经典信息量的方法，调控经典信息量在粒子信息容量和量子信道容量之间浮动。
5) Cephalometric
[英][,sefə'lɔmitrik] [美][,sɛfə'lɑmɪtrɪk]
投影测量
1.
Objective To investigate the influence of genetic and environmental factors on cranial bones,jaw bones,teeth and soft tissues of homozygotic twin by cephalometric images and dental model measurement.
目的通过投影测量和模型测量的方法,比较同卵双生子间颅骨、颌骨、牙齿、软组织的形态学差异,初步探索遗传因素和环境因素对同卵双生子颅颌面部软硬组织形态发育的影响。
6) projection system
投影系统
1.
Study on the projection system of space coding and distortion eliminating;
空间编码消畸变投影系统的研究
2.
Optical design of the projection system for 3D active vision sensing;
用于三维主动视觉传感的投影系统的光学设计
3.
Image error analysis of projection system & its optimized design;
投影系统像差分析及优化设计
补充资料：长度测量工具：投影仪
利用光学投影系统把被测件放大后进行测量的长度测量工具。投影仪主要用於测量复杂形状工件﹐如成形刀具﹑样板﹑凸轮﹑仪錶零件﹑电子元件的轮廓形状和表面尺寸等。应用光切法(见表面粗糙度测量)测量的投影仪还可测量汽轮机叶片等的剖面几何形状。投影仪一般採用透射式光学投影系统﹐但也有带有反射式光学投影系统的(图1 光学投影系统 )。
前者主要用於测量薄工件的轮廓尺寸﹔后者主要用於测量工件端面上的形状和尺寸等。投影仪除了有光学投影系统外﹐还有类似工具显微镜那样的坐标工作台(简称工作台)。测量时﹐被测件放在工作台上﹐移动或转动工作台﹐使投影屏上的标线对準被测长度的起点或一边。从读数机构读出工作台的坐标位置﹐再移动或转动工作台﹐使标线对準被测长度的终点或另一边﹐然后读出工作台的坐标值。两次读数值之差就是被测长度的量值。测角时也常以转动投影屏来对準。在投影屏上还可绘出被测长度带有公差带的放大图形﹐以此与投影屏上实际被测长度的放大图形比较﹐检验其尺寸是否合格。此法可同时测量被测件上多个尺寸﹐效率较高。投影仪按物镜光轴方向可分为立式(图2 立式投影仪 )
和卧式两种。其放大倍数一般为10﹑20﹑50和100倍﹐也有200倍的。读数机构的分度值一般为0.01﹑0.005和0.001毫米。
前者主要用於测量薄工件的轮廓尺寸﹔后者主要用於测量工件端面上的形状和尺寸等。投影仪除了有光学投影系统外﹐还有类似工具显微镜那样的坐标工作台(简称工作台)。测量时﹐被测件放在工作台上﹐移动或转动工作台﹐使投影屏上的标线对準被测长度的起点或一边。从读数机构读出工作台的坐标位置﹐再移动或转动工作台﹐使标线对準被测长度的终点或另一边﹐然后读出工作台的坐标值。两次读数值之差就是被测长度的量值。测角时也常以转动投影屏来对準。在投影屏上还可绘出被测长度带有公差带的放大图形﹐以此与投影屏上实际被测长度的放大图形比较﹐检验其尺寸是否合格。此法可同时测量被测件上多个尺寸﹐效率较高。投影仪按物镜光轴方向可分为立式(图2 立式投影仪 )和卧式两种。其放大倍数一般为10﹑20﹑50和100倍﹐也有200倍的。读数机构的分度值一般为0.01﹑0.005和0.001毫米。 说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条