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1)  Planeness Measuring System
平面度测量系统
2)  flatness testers
平面度测定系统
3)  flatness measurement
平面度测量
4)  planeness measurement
平面度测量
1.
Study on image processing method of light spot in planeness measurement system of solar panel substrate;
太阳能帆板平面度测量系统中光斑图像处理方法研究
2.
The research of planeness measurement of largescale workpiece which have a kind of special surface isdone, because the precision and efficiency of current contactmethod are low, so we develop a new kind of optoelectronicplaneness measurement instrument on the measuring plane-ness which based on the actual engineering project.
针对某种具有特殊表面平面的大型工作平面度测量问题进行了研究,由于现有的接触式测量方法存在着精度差、效率低等问题,所以在实际工程课题的基础上,开发了一种基于测量平台的新型光电式平面度测量仪。
5)  measuring flatness of road surface
路面平整度测量
6)  flatness measuring instrument
平面度测量仪
补充资料:平面度测量
      长度计量技术中对平面度误差的测量。平面是由直线组成的,因此直线度测量中直尺法、光学准直法、光学自准直法、重力法等也适用于测量平面度误差。测量平面度时,先测出若干截面的直线度,再把各测点的量值按平面度公差带定义(见形位公差)利用图解法或计算法进行数据处理即可得出平面度误差。也有利用光波干涉法和平板涂色法测量平面误差的。光波干涉法常利用平晶进行,图为测量所得的不同干涉条纹。图中a的干涉条纹是直的,而且间距相等,只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的,但与光学平晶不平行,而且在圆周部分有微小的偏差。图中b的干涉条纹弯曲而且间隔不相等,表明被检验表面是球形的,平晶有微小倾斜。条纹弯曲度约为条纹间距的1.5倍,表示平面度误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中c的干涉条纹呈圆形,同样表明被检验表面是球形表面。将条纹数目乘以所用光束波长的一半,即得所求的平面误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中d的干涉条纹成椭圆形排列,说明被检验表面是桶形的。可以把干涉图案作为被检验表面的等高线,因此可以画出该表面的形状。这种方法仅适宜测量高光洁表面,测量面积也较小,但测量精确度很高。
  

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