1) mapping control survey
图根控制测量
1.
This paper mainly introduced the application of GPS RTK technique in mapping control survey of large-scale topographic surveying and mapping.
本文通过工作实践,着重介绍GPS RTK技术在城市大比例尺地形图测绘中图根控制测量部分的应用,与传统的控制测量方法进行作业过程、工作效率及精度方面的比较,得出两者之间的优缺点,提出来与大家共同探讨。
2.
An application of GPS RTK technology in the mapping control survey and detail survey is discussed based on some concrete examples,analyzed the accuracy that RTK technology can attain,put forward to some problems that we should notice in working and got a beneficial conclusion.
通过实例阐述RTK技术在图根控制测量和碎部测量中的应用,并对RTK所能达到的精度进行了理论分析,提出了RTK作业应注意的问题,得出了有益的结论。
2) cadastre control surveying
图根控制测量
1.
Study on RTK technique in cadastre control surveying;
作者着重阐述了RTK技术的基本原理和在地籍图根控制测量中的应用。
3) mapping control
图根控制
1.
The paper briefly introduces the work mechanism of RTK and mainly analyzes its application in mapping control as well as its coordinate work with the total station to conduct digital topographic mapping.
文章简要介绍了GPS实时差分系统(RTK)的基本原理,重点分析了在地形测绘中使用RTK进行图根控制的方法以及RTK与全站仪配合进行数字化地形测绘的应用情况。
4) survey of secondary control
图根测量
1.
The paper brief introduced the feasibility,handle operate steps and notice of RTK technique used in the survey of secondary control and detail survey,and detailed analyzed the precise of this way.
主要介绍了RTK技术在地形图图根测量、碎部测量中的可行性和操作步骤及注意事项;并详细分析了该方法的测量精度。
5) control traverse diagram
导线测量控制图
6) base extracted from survey sheet no. X
根据Ｘ号测量图绘制
补充资料：不合格品率控制图(p图)
不合格品率控制图(p图)
control charts for fraction defective
buhsgePinIO kongzhitu不合格品率控制图《p图)(cootrol chaztsfor俪ction de公兑tive)利用样本的一定类型的不合格品率(川，评估和监察过程的控制图，也是计数型控制图中最常用的控制图。计数数据往往能够快速而较便宜地取得，一般也不需要特别的收集技巧。计数型控制图的参数均值(产)与标准差(的是互相关的:例如，样本不合格品率(川的均值巧=p，标准差丐二石可下不下石，式中尸为过程或总体的平均不合格品率，。为样本大小。确定产，、凡中的一个就等于确定另一个，故只有一个独立的参数，即总体平均不合格品率p，因此，控制不合格品率(p)仅一张控制图就足够了。p图用于控制对象为不合格品率或合格品率等计件值的场合。常见的不良率有不合格品率、废品率、交货延迟率、缺勤率、差错率等。 p图的控制界限也是从休哈特控制图控制界限的总公式，即休哈特的3。方式导出的，具体如下:UCL二P+3_户，。丫六，一户，。CL二PoPLCL二P一3了P(l一P)/n了P(l一P)In。户一3丫户(:一户)/n式中:UCL为上控制限，比L为下控制线，CL为中心线，笋为总体平均不合格品率p的估计值，通常久。所有不合格品数厂“厂二一班看释魂礴「一 由于在p图的上下控制界限uCL、优L公式中含有样本大小n，故当n变化时，p图的上下控制界限呈凹凸状，不但作图难，而且更重要的是在p图上难于判断异常，也难于判断稳定。这时采用通用拉制图，可以克服上述困难。下页左图是一个实例的p图与不合格品数通用控制图(pn;图)的对比。(孙静)
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参考词条