内建自测试,BIST,在线英语词典,英文翻译,专业英语

1) BIST

内建自测试

Design of Programmable Memory BIST for Embedded Dual Ports SRAM;

嵌入式双端口SRAM可编程内建自测试结构的设计

Embedded Flash Memory BIST For System-on-a-Chip;

SoC嵌入式flash存储器的内建自测试设计

An All-Digital BIST Scheme for the ADC Test;

全数字的模数转换器内建自测试方案

2) BIST

BIST

A New BIST TPG Design for I_(DDT) Testing;

新型I_(DDT)测试的BIST测试生成器设计

Testing research for the SOC logic BIST;

系统芯片SOC的BIST测试研究

A BIST Method for Linear Analog Circuits Based on State Space Model;

基于状态空间模型的线性模拟电路BIST方法

3) BIST

内建自测

A Multi-frequency BIST IP Core with Scan Chain for Embedded Register File;

适用于嵌入式五口SRAM的多频率内建自测电路

An approach for FPGA(Field Programmable Gate Array) testing logic cells based on BIST(Built-In Self-Test) is presented.

给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法。

A reseeding BIST scheme with variable lengths of test sequences is proposed in this paper.

本文提出一种变长序列重复播种的内建自测试方案,该方案使用重复播种技术,每个种子所产生的伪随机测试向量的序列长度不同。

4) BIST

内建自检测

We expound the techniques ,structure and principle of BIST.

阐述内建自检测(BIST)技术的特点、结构和原理,并介绍其在Memory单元电路中的实现过程。

5) BIST

内置自测试

6) BIST

折叠控制器

参考词条

deterministic BIST BIST implementation deterministic BIST deterministic BIST processor BIST structural BIST microcode BIST memory BIST Multiphase BIST BIST controller deterministic logic BIST transparent based programmable BIST DR-LMS算法南美防已

补充资料：测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定

测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定
check of the acceptability of test results and determination of the final test result

　　C凡(3)二3.3d，时，取此3个结果的平均值作为最终侧试结果;否则取它们的中位数作为最终测试结果。。，为重复性标准差(即在重复性条件下所得侧试结果的标准差)。在口田T 11792一1989中还对重复性和再现性条件下所得侧试结果可接受性的检查方法和最终测试结果的确定做了详细讨论和规定。(马毅林)ceshi 11叩uo kejieshCxjxing d6 iiancha he zuizhong ceshi】i闪旧de que心ing测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定(checkof山eac，ptability of test，ults助ddsterminationofthefi耐testresult)在商品检验中进行一次测试的情形不多见，当得到一个测试结果时，所得结果不可能直接与给定的重复性标准差作可接受性的检查。对测试结果的准确性有任何疑问时都应再进行一次测试。所以，对两个测试结果进行可接受性的检查是一般的情况。可接受性的检查，实际上是一种统计检验。任何两个测试结果只要能通过可接受性的统计检验即可认为是一致的，均可接受。比如，在重复性条件下，所得结果之差的绝对值(下称绝对差)不超过相应的重复性限r(见重复性和再现性)的值，则认为两个结果是一致的，均可接受;如果两个侧试结果的绝对差超过r，则认为它们是不一致的，必须增加测试。按国家标准《测试方法的精密度在重复性或再现性条件下所得测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定》(GBIT 1 1792一1989)，在重复性条件下，如果两个测试结果的绝对差不超过r的值，可取两个侧试结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较低，须再做两次测试。当4个结果的极差(即其中的最大值与最小值之差)不超过相应的临界极差c，瓜(4)二3.6a，时，取4个结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较高时，只须再作一次测试。当3个结果的极差不超过相应的临界极差
　　

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1) BIST 内建自测试 1. Design of Programmable Memory BIST for Embedded Dual Ports SRAM; 嵌入式双端口SRAM可编程内建自测试结构的设计 2. Embedded Flash Memory BIST For System-on-a-Chip; SoC嵌入式flash存储器的内建自测试设计 3. An All-Digital BIST Scheme for the ADC Test; 全数字的模数转换器内建自测试方案 2) BIST BIST 1. A New BIST TPG Design for I_(DDT) Testing; 新型I_(DDT)测试的BIST测试生成器设计 2. Testing research for the SOC logic BIST; 系统芯片SOC的BIST测试研究 3. A BIST Method for Linear Analog Circuits Based on State Space Model; 基于状态空间模型的线性模拟电路BIST方法 3) BIST 内建自测 1. A Multi-frequency BIST IP Core with Scan Chain for Embedded Register File; 适用于嵌入式五口SRAM的多频率内建自测电路 2. An approach for FPGA(Field Programmable Gate Array) testing logic cells based on BIST(Built-In Self-Test) is presented. 给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法。 3. A reseeding BIST scheme with variable lengths of test sequences is proposed in this paper. 本文提出一种变长序列重复播种的内建自测试方案,该方案使用重复播种技术,每个种子所产生的伪随机测试向量的序列长度不同。 4) BIST 内建自检测 1. We expound the techniques ,structure and principle of BIST. 阐述内建自检测(BIST)技术的特点、结构和原理,并介绍其在Memory单元电路中的实现过程。 5) BIST 内置自测试 6) BIST 折叠控制器参考词条 deterministic BIST BIST implementation deterministic BIST deterministic BIST processor BIST structural BIST microcode BIST memory BIST Multiphase BIST BIST controller deterministic logic BIST transparent based programmable BIST DR-LMS算法南美防已补充资料：测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定 check of the acceptability of test results and determination of the final test result 　　C凡(3)二3.3d，时，取此3个结果的平均值作为最终侧试结果;否则取它们的中位数作为最终测试结果。。，为重复性标准差(即在重复性条件下所得侧试结果的标准差)。在口田T 11792一1989中还对重复性和再现性条件下所得侧试结果可接受性的检查方法和最终测试结果的确定做了详细讨论和规定。(马毅林)ceshi 11叩uo kejieshCxjxing d6 iiancha he zuizhong ceshi】i闪旧de que心ing测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定(checkof山eac，ptability of test，ults助ddsterminationofthefi耐testresult)在商品检验中进行一次测试的情形不多见，当得到一个测试结果时，所得结果不可能直接与给定的重复性标准差作可接受性的检查。对测试结果的准确性有任何疑问时都应再进行一次测试。所以，对两个测试结果进行可接受性的检查是一般的情况。可接受性的检查，实际上是一种统计检验。任何两个测试结果只要能通过可接受性的统计检验即可认为是一致的，均可接受。比如，在重复性条件下，所得结果之差的绝对值(下称绝对差)不超过相应的重复性限r(见重复性和再现性)的值，则认为两个结果是一致的，均可接受;如果两个侧试结果的绝对差超过r，则认为它们是不一致的，必须增加测试。按国家标准《测试方法的精密度在重复性或再现性条件下所得测试结果可接受性的检查和最终测试结果的确定》(GBIT 1 1792一1989)，在重复性条件下，如果两个测试结果的绝对差不超过r的值，可取两个侧试结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较低，须再做两次测试。当4个结果的极差(即其中的最大值与最小值之差)不超过相应的临界极差c，瓜(4)二3.6a，时，取4个结果的平均值作为最终测试结果。如果两个结果的绝对差超过r的值，并且测试费用较高时，只须再作一次测试。当3个结果的极差不超过相应的临界极差　　说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
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