1) Delaire cephalometric analysis
Delaire头影测量方法
1.
Objective To analyze the cranio-maxillo-facial hard tissue structure feature with skeletal class Ⅲ malocclusion with Delaire cephalometric analysis,which will guide the orthodontic treatment before orthognathic surgery and the model surgery.
目的采用Delaire头影测量方法分析骨性Ⅲ类正颌患者颅面部硬组织特征,为正畸-正颌联合治疗的术前正畸、模型外科设计提供参考。
2) Delaire cephalometric analysis
Delaire头影测量分析
1.
The database of measurements of craniofacial skeletal structure of non-snoring males with malocclusion aged from 11 to 16 years old before treatment was built,the lateral cephalometric films of each patient were measured by modified Delaire cephalometric analysis to find out the discrepancies of craniofacial structure in real condition and ideal equilibrium
本研究建立年轻恒牙期无鼾男性青少年错牙合畸形患者数据库,收集数据库内患者正畸治疗前X线头颅侧位片,并利用改良Delaire头影测量分析方法对颅颌面骨骼结构进行测量,通过与患者本身理想平衡状态下骨骼结构的大小及位置相比较,找出数据库内错牙合畸形患者颅颌面骨骼结构与其理想平衡状态下的差异,利用多元回归方法分析这些差异与上气道矢状向间隙大小的相关性,从而筛选出对上气道空间大小有明显影响的颅颌面骨骼结构异常因素,同时考虑利用矫形治疗等手段对这些因素进行控制,考察治疗前后气道矢状向间隙的变化。
2.
METHODS:Seventy-four cephalometric films of nonsnoring males with malocclusion aged from 11 to 16 years(mean 13 years)before treatment were collected and measured with Delaire cephalometric analysis,the results were assessed by SPSS13.
方法:收集74例恒牙早期无鼾男性错畸形患者(年龄11～16岁,平均年龄13岁)治疗前头颅侧位片,对颅颌面骨结构及上气道矢状向空间大小进行Delaire头影测量分析。
3) Delaire architectural analysis
Delaire头影分析
4) cephalometry
[英][,sefə'lɔmitri] [美][,sɛfə'lɑmɪtrɪ]
头影测量法
5) Conventional cephalometric analysis
传统头影测量法
6) Delaire architectural
Delaire整体平衡头影分析
1.
Delaire architectural analysis has been emphasized more and more over the world these years.
而Delaire整体平衡头影分析法在国际上越来越受到重视,它是由法国著名的正畸正颌专家Delaire通过不懈研究探索得出,此方法最突出的观点是在生理状态下视颅-颌-面-颈系统为一个“建筑体样”的整体,各部分间相互影响、作用并达到生物力学平衡。
补充资料：测量方法
测量方法
method of measurement
Celiangfo嘟a测t方法(吮山司ofmea旧urelr比nt)进行测t时所用的，按类别叙述的一组操作逻辑次序。测量方法可按不同方式分为若干种。对于那些已规范化的测t方法，一般均有国家标准、行业标准、检定规程等类技术规范加以规定。生产部门往往也通过制定的工艺程序或要求，规定测量方法。测量方法直接影响测t结果的可靠程度。制定测量方法的依据一般是最大允许测t误差或最大可接受的不确定度，再加上经济上的考虑。 直接测黄法和间接浏童法不对与被测量有函数关系的其他量进行侧量，而是直接得到被测量的测量方法称为直接测量法。为了进行某种修正，虽需要对其他t进行测量以确定修正值，这种测量方法仍属直接测t。例如用压力表测量流体压力、用水银温度计测t温度、用祛码通过天平对某种物体的质量进行测t，通过对与被测量有函数关系的其他量的测量，按给定函数关系计算出被测量的方法，称为间接测量法。设被侧 ty’(输出量)与直接测量的量X‘(摘出量)之间，有函数关系: Y‘=F(X厂，X犷，…，X二)它们对应的估计值(测量结果)Y，X:，瓜，…，抵之间有: Y二F(X，，瓜，…，寿)上述函数关系式称为测量模型或测量的数学模型，随侧t原理、方法而不同。例如:通过物体体积及其质量的测t得出物体密度(翰出量)，通过导线长度、截面积以及电阻的测量得出电阻率(翰出量)。 基本浏童法和定义浏1法通过量制中基本量的侧t以确定被测量大小的方法称为基本测量法。通过国际单位制(SI)的7个基本量中的某几个，可测出某个导出t的大小。如通过距离和时间的测量以求出速度(愉出量)，通过电流和时间的测量以求出电荷量(输出t)。根据被测量单位的定义进行测量的方法称为定义测t法，例如通过电阻的Sl单位n定义为: 10二IV·A一l通过电压与电流的测里得出电阻。实际上，更多的情况下，是按量的定义方程进行测量。上例中，可按电阻R定义为电压U与电流I的定义式 R二Ull进行侧t。特别是在定义方程中出现非“1”的系数时，不能按定义测量法，而必须按量的定义方程。此外，不是所有导出量都可以按定义测量法测量的，例如运动粘度的sI单位为衬/。，却不能通过长度和时间来测量这一导出量。
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参考词条