1) Angle-dependent XPS
变角XPS
1.
The angle-dependent XPS technique was employed to study the changes of the surface properties of the modified PET.
利用变角XPS方法研究不同磁场条件下碳氟等离子体对PET表面的改性，并探讨了磁场对碳氟等离子体聚合的影响。
2) angle-dependent X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) technology
变角XPS技术
3) angle resolved XPS
角分辨XPS
4) X-ray photoelectron spectroscopy
XPS
1.
Examination of X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) demonstrated that the peak of Al(2p) on polyacetal grafted Al_2O_3 surfaces(almost) disappeared, while that of O(1s) increased.
X射线光电子能谱(XPS)的分析结果表明,经过聚缩醛接枝改性的纳米Al2O3的Al(2p)峰几乎消失,O(1s)峰也相应降低,与之相对应的是C(1s)峰有了明显的增长,对C(1s)峰精细扫描及分峰拟合表明,纳米Al2O3表面碳元素中有61。
2.
The working principles of several advanced surface analysis instrument including X-ray photoelectron spectroscopy(XPS),atomic force microscopy(AFM) and time of flight secondary ion mass spectroscopy(ToF-SIMS) are introduced, their successful application in fiber surface analysis recent years is reviewed.
介绍了先进的表面分析仪器化学分析电子能谱(XPS)、原子力显微镜(AFM)、含飞行时间分析器的二次离子质谱仪(ToF-SIMS)的工作原理,回顾了近年来它们在植物纤维表面分析中的成功应用,综合利用XPS、AFM及ToF-SIMS方法,可分析和解决制浆造纸过程中的现象和问题。
3.
The surface morphology, composition and structure character of the Fe-N-O thin films were studied by scanning electron microscopy (SEM), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and transmission electron microscopy (TEM).
通过扫描电子显微镜(SEM)、光电子能谱(XPS)和透射电子显微镜(TEM)等先进实验分析手段对二极溅射沉积Fe N O薄膜的形貌与结构进行了分析。
5) X ray photoelectron spectroscopy (XPS)
XPS法
6) XPS spectra
XPS谱
1.
The XRD spectra and XPS spectra were measured for Sr doped La 1- x Sr x CoO 3 materials with perovskite structure prepared by the solid state reaction method.
测试了该材料的XRD和XPS谱 ,研究了不同热处理工艺对La1 -xSrxCoO3材料平均晶粒度的影响 ,研究了不同Sr掺杂量的La1 -xSrxCoO3阴极材料表面的化学状态。
2.
XPS spectra are obtained for the bleached and coloured statos in Ni2p3/2 and O1s regions.
着色没有自发过程，获取了着消色状态Ni2p3／2和O1s的XPS谱，表明在着色态镍被氧化，消色态镍被还原，相应地氧的化学环境发生改变。
补充资料：XPS
分子式：
CAS号：
性质：也称化学分析用电子能谱（ESCA），即以X射线为激发源激发原子内层电子的光电子能谱。该方法可以通过测定1s电子的结合能来鉴定样品的化学元素。此外，通过考察光电子峰的位移（称为化学位移）可以研究化合物的化学键和电荷分布，探讨固体表面的结构问题。
CAS号：
性质：也称化学分析用电子能谱（ESCA），即以X射线为激发源激发原子内层电子的光电子能谱。该方法可以通过测定1s电子的结合能来鉴定样品的化学元素。此外，通过考察光电子峰的位移（称为化学位移）可以研究化合物的化学键和电荷分布，探讨固体表面的结构问题。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条