2) phase-shifting interference microscopy
相移干涉显微术
1.
Nanometer surface measurements based on phase-shifting interference microscopy;
相移干涉显微术测量表面微观形貌
3) Phase-shifting interferometric microscope
相移干涉显微镜
4) phase-shifting microscopic interferometry
相移显微干涉术
1.
In this paper,a new method combining 2-D structure template,which guides phase unwrapping,is proposed based on phase-shifting microscopic interferometry.
本文提出一种基于相移显微干涉术、利用干涉图建立二维结构模板指导相位展开的新方法,它不仅适用于静态测量,而且能应用于在动态测量中,特别是微机电系统(MEMS)器件的运动测量。
补充资料：高分辨电子显微镜(见高分辨电子显微术)
高分辨电子显微镜(见高分辨电子显微术)
high resolution electron microscope
高分辨电子显微镜high resolution eleetronmieroseope见高分辫电子显微术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条