1) scanning tunneling microscope(STM)
扫描隧道显微镜(STM)
1.
The several recent scanning probe spectroscope characterization techniques are summarized,including scanning tunneling microscope(STM)、 atomic force microscope(AFM) and scanning near-field optical microscopy(SNOM),which could provide useful information concerning the structure and character of nanomaterials.
以纳米材料为主要研究对象,综述了国外最新的几种扫描探针显微表征技术,包括扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)和近场扫描光学显微镜(SNOM)等方法,展示了这几种技术在纳米材料的结构和性能方面的应用。
2) Scanning tunneling microscopy (STM)
扫描隧道显微镜(STM)
3) Scanning tunneling microscopy(STM)
扫描隧道显微镜(STM)
4) scanning tunneling microscope
扫描隧道显微镜(STM)
5) STM
扫描隧道显微镜(STM)
6) scanning tunneling microscope (STM) tip
扫描隧道显微镜(STM)针尖
补充资料：扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe
扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条