补充资料：干涉量度学

干涉量度学
Interferometry

　　仪中的所有光线产生一个辐照度均匀的圆条纹。若用扩展漫射光源，对应多光束透射，干涉条纹是很窄的同心圆。条纹的位置与波长有关。也就是说，每种波长产生一组干涉图形，分辨相近干涉条纹的能力决定了最小可分辨的波长差。波长只与最小可分辨波长差配之比称为光谱分辨本领男。在接近垂直人射的情况下，.劣由下式给出:_几_盛二.二二下:一.-~二尹 L。人少最小州 几(5)式中n是两反射镜间介质的折射率，d是两镜间距。若波长为50。纳米，nd二10毫米，R二90%，则分辨本领优于106。参阅“电磁辐射的反射”(了efleetjonofeleetromagnetie radiation)、“分辫本领”(resolvingI)‘，w。r)条 带有激光器的法布里一拍罗干涉仪经常以中央光斑扫描模式工作。用准直激光束照明干涉仪，所有透过法布里一拍罗的光聚焦到探测器上，其输出用示波器显示。法布里一拍罗的一面反射镜常常固定在压电镜架上。改变压电晶体所受电压，镜子间距随之变化。作为镜间距函数的光输出给出激光光源的频谱信息。 全息干涉t度学为将来再现或应用，记录在全息图中的光波被存储起来。当某个较早时刻产生的、且储存在全息图中的光波稍后再现，并与比较光波产生干涉时出现干涉图形，而全息干涉量度学就是研究干涉条纹图形的形成并说明其含义的。正是在存储和时间延迟两个方面，全息方法表现出比传统光学干涉法无可比拟的优越性。图10二次曝光干涉量度学。(a)蜡烛火焰的干涉图;(b)蜂巢结构板中双带区域的全息图 任意形状的、不光滑的散射表面都可产生全息图。适当制版之后，若用记录全息图的同一参考波前照射这个全息图，则该图将再现原始物体的波前。如果将全息图放回原来的位置，透过全息图既可以观察到原始物体.又可以看到储存在全息图中物体的像。如果物体稍有变形，将产生干涉条纹，显示物体表面变形程度。在相邻干涉条纹之间，光源与观察者间光程相差一个波长。虽然没有确定物体的实际形状，但它以小于一个波长的精度测量了物体形状的变化量，即使物体表面粗糙度达到光的波长量级也是如此。 二次曝光二次曝光全息干涉量度学(见图l的与上边描述的实时全息干涉量度学相似，只是在制版之前要二次曝光这点除外:一次是在物体未发生形变状态下曝光;第二次是形变发生后曝光。当再现全息图时，看到的干涉条纹说明物体在二次曝光间发生形变的大小。二次曝光技术优于实时技术之点，在于制版后对全息图的放置要求不苛刻。其缺点是，433·涉条纹。

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