1) ions / X ray diffraction analysis
离子/X射线衍射分析
2) X-ray diffraction analysis
X射线衍射分析
1.
Change of macroscopic stress in ZnSe devices during the processing was determined by X-ray diffraction analysis.
用X射线衍射分析技术测定晶体器件在加工过程中宏观应力的变化。
2.
Talc powder in flour was determined by X-ray diffraction analysis(XRD) after isolation of flour with carbon tetrachloride or cineration at high temperature from 500℃ to 750℃.
通过四氯化碳分离或高温灰化,X射线衍射分析测定面粉中掺入的滑石粉。
3.
X-ray diffraction analysis and differenti al thermal analysis(DTA)have been used to study the structure of Pd-20W alloy.
对Pd - 2 0W合金进行X射线衍射分析和差热分析 ,结果表明 :Pd - 2 0W合金是面心立方固溶体 ,合金的晶格点阵参数和晶粒大小随着温度的变化而变化 ,在温度缓慢下降至 75 0℃时出现了超结构转变。
3) X-ray diffraction
X射线衍射分析
1.
X-ray diffraction (XRD) program was improved.
同时,简要介绍运用X射线衍射分析判断新相生成并对其进行表征,探讨制备条件对组成结构的影响,推测反应机理及解决生产中的问题,为制备合格材料提供依据。
2.
Multi-anvil apparatus and X-ray diffraction technology were used to investigate the phase transformation of synthesized NaAlSiO_(4) over a temperature range from 1200 to 2000 ℃ and a pressure range from 22 to 25 GPa.
采用多顶砧静态高温高压实验装置和X射线衍射分析方法研究了合成霞石NaAlSiO4在压力为22～25GPa,温度为1200～2000℃条件下的相变及其产物的晶体学特征,结合前人研究成果探讨了NaAlSiO4的高温高压相变过程和CaFe2O4型NaAlSiO4的稳定性及其地质意义。
3.
X-ray diffraction,including Bragg\'s equation in crystallography,the Fourier transform of helical structures,and Wilkins\' experimental determination of the double helix are discussed.
简述了薛定谔对基因物质的预言和德尔布吕克等人关于DNA是遗传物质的确定;介绍了DNA结构的X射线衍射分析,其中包括在X射线晶体学中的布拉格方程,螺旋结构的傅里叶变换,威尔金斯对双螺旋结构的实验验证;介绍了分子模型方法,其中包括键角与键长,杂化轨道理论,碳四面体型轨道的量子力学计算,在分子的空间构型中氢键的作用。
4) XRD
X射线衍射分析
1.
The XRD analysis of sample shown that the crystal-grain dimension, the diffraction peak intensity and the crystal lattice constant were affected by annealing time.
对以铟、锡氯化物为前驱物,采用溶胶-凝胶法制备的掺锡氧化铟薄膜(ITO膜)样品进行了X射线衍射分析,研究了热处理时间对ITO膜的影响,结果表明热处理时间影响ITO膜晶粒的大小、衍射峰的相对强度和晶格常数;热处理时间为15min时,ITO膜晶粒较大,衍射峰择优取向不明显,晶格畸变较小,此时ITO膜的方阻最小。
2.
The XRD analysis of sample showed that the diffraction peak intensity,the crystal lattice constant and crystal-grain dimension were affected by annealing temperature.
采用溶胶-凝胶法以铟、锡氯化物为前驱物制备不同热处理温度下的ITO膜,对制备的ITO膜样品进行X射线衍射分析。
5) XRD
X-射线衍射分析
1.
The nucleation and crystallization of Li2O-Al2O3-SiO2 glasses which has P2O5、TiO2、ZnF2 as nuclear doses independently are investigated by the differential thermal analysis(DTA),X-ray diffraction(XRD) and the scanning electron microscopy(SEM).
采用差热分析(DTA)、X-射线衍射分析(XRD)和扫描电镜(SEM)等分析手段研究了P2O5、TiO2、ZnF2作为晶核剂对Li2O-Al2O3-SiO2(LAS)系统微晶玻璃形核和晶化的影响。
2.
Based on the analysis of the chemical composition,X-ray diffraction(XRD),infrared spectroscopy(IR),differential thermal analysis(DTA) and scanning electron microscopy(SEM),the characteristics of Handan bentonite were studied.
采用化学成分分析、X-射线衍射分析、红外光谱、差热分析和扫描电镜等分析方法,研究了邯郸膨润土的特征。
6) X-ray diffraction analysis
X-射线衍射分析
1.
, IR, ~1H NMR and X-ray diffraction analysis.
、~1H NMR、X-射线衍射分析等分析手段对其结构进行了表征。
补充资料：X射线衍射分析
分子式：
分子量：
CAS号：
性质：晶体受X射线照射时，其中的原子向四周散射X射线。由于晶体具有周期性结构，这些散射X射线相互干涉的结果，只在某些特定的方向上发生衍射线，这种现象称为X射线衍射。各种不同的结晶物质具有不同的晶体结构，其衍射线的方向和相对强度也就各不相同。因此，各种结晶物质具有特定的衍射花样，如同指纹一样各不相同。故可根据多晶的衍射花样来鉴别其化学组成和物相。这就是X射线衍射法进行物相定性分析的基础。由于衍射强度与该物相的含量有关，X射线衍射法也可用于多晶物质的定量分析。根据单晶的衍射花样，可测定晶胞的形状和大小，并由衍射强度数据计算原子的空间位置。此外，X射线衍射法还可用于测定晶体粒度和单晶取向，以及高聚物的结晶度、长周期、择优取向和点阵畸变等。
分子量：
CAS号：
性质：晶体受X射线照射时，其中的原子向四周散射X射线。由于晶体具有周期性结构，这些散射X射线相互干涉的结果，只在某些特定的方向上发生衍射线，这种现象称为X射线衍射。各种不同的结晶物质具有不同的晶体结构，其衍射线的方向和相对强度也就各不相同。因此，各种结晶物质具有特定的衍射花样，如同指纹一样各不相同。故可根据多晶的衍射花样来鉴别其化学组成和物相。这就是X射线衍射法进行物相定性分析的基础。由于衍射强度与该物相的含量有关，X射线衍射法也可用于多晶物质的定量分析。根据单晶的衍射花样，可测定晶胞的形状和大小，并由衍射强度数据计算原子的空间位置。此外，X射线衍射法还可用于测定晶体粒度和单晶取向，以及高聚物的结晶度、长周期、择优取向和点阵畸变等。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条