1.
The Principle and Application in Semiconductor of SIMS
二次离子质谱仪的原理及在半导体产业中的应用
2.
collection angle
收集角 -二次离子质谱术
3.
secondary ion mass spectroanalyzer
二次离子质谱分析器
4.
UF6 mass spectrometers/ion sources
UF6质谱仪/离子源
5.
useful ion yield
有用离子产额-二次离子质谱术
6.
negative ion yield
负离子产额 -二次离子质谱术
7.
The instrument directs the secondary ions to a mass spectrometer that identifies their compositions.
仪器会将次级离子导向质谱仪，以?定其组成。
8.
plasma chromatograph-mass spectrometer (PC-MS)
等离子色谱-质谱联用仪
9.
sensitivity factor
灵敏度因子(二次离子质谱术)
10.
incident particle energy
入射粒子能量 -二次离子质谱术
11.
interference signal
干扰信号 -二次离子质谱术
12.
Studies of Vanadium in SiC by SIMS
SiC中V含量的二次离子质谱分析研究
13.
mass analyzed ion kinetic energy spectrometer(MIKES)
质量分析离子动能谱仪
14.
Study of Quantitative Analysis of Vanadium in SiC by Secondary Ion Mass Spectroscopy;
二次离子质谱分析碳化硅中钒杂质含量的研究
15.
Development of Rectilinear Ion Trap Mass Spectrometer and Ion Mobility Spectrometer;
矩形离子阱质谱仪和离子淌度谱仪的研制
16.
secondary ion mass spectrometry
次级离子质谱分析法
17.
PRELIMINARY ANALYSES BY SIMS ON TRACE COMPONENTS OF STALAGMITE MICROLAYERS AND THEIR CLIMATE SIGNIFICANCE
石笋微层物质组成的二次离子质谱初步分析及其气候意义
18.
inductively coupled plasma mass spectrometers
感应耦合等离子体质谱仪