1) EUV and X-ray
极紫外与X射线
1.
Normal Incidence Two-mirror Reflecting Systems Designed at EUV and X-ray
极紫外与X射线波段正入射两镜反射系统的研究(英文)
4) soft X-ray and extreme ultraviolet reflectometer
软X射线-极紫外反射率计
1.
Compact high-precision soft X-ray and extreme ultraviolet reflectometer;
小型高精度软X射线-极紫外反射率计
5) Soft X ray and VUV
软X射线-真空紫外
6) ultraviolet radiation
紫外射线
补充资料:软X射线显现电热能谱 SXAPS
分子式:
CAS号:
性质:将电子束射于固体上,当其能量超过显现能量才能激发出特定的X射线。测量和跟踪激发的X射线强度与入射电子能量的关系可了解表面组成,因为当因吸附等原因而引起表面组成变化时其相应的电势谱峰发生变化。但是,在分析表面组成上SXAPS的灵敏度远不及俄歇电子能谱(AES)。
CAS号:
性质:将电子束射于固体上,当其能量超过显现能量才能激发出特定的X射线。测量和跟踪激发的X射线强度与入射电子能量的关系可了解表面组成,因为当因吸附等原因而引起表面组成变化时其相应的电势谱峰发生变化。但是,在分析表面组成上SXAPS的灵敏度远不及俄歇电子能谱(AES)。
说明:补充资料仅用于学习参考,请勿用于其它任何用途。
参考词条