1) build-in self-diagnosis
内建自诊断
2) Memory Build-In Self Diagnosis (MBISD)
存储器内建自诊断
1.
Memory Build-In Self Diagnosis (MBISD) in Memory Build-In Self Test (MBIST) technology is introduced, which is widely used in the design of testability of embedded memories.
针对大规模嵌入式存储器可测性设计技术——存储器内建自测试(MBIST)中的故障诊断问题,介绍了MBIST设计的扩展功能——存储器内建自诊断(MBISD)。
3) automatic internal diagnosis
自动内部诊断
4) automatic internal diagnosis
自动内部故障诊断
5) automatic internal diagnosis
自动诊断计算机内部故障;自动诊断内部故障
补充资料：随机存取存储器(见半导体存储器)
随机存取存储器(见半导体存储器)
random access memory,RAM
s日1}}Cunq日Ct旧choql随机存取存储器random aeeess memoryRAM)见半导体存储器。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条