1) fluorescent reflectivity
荧光反射率
1.
The optimum dyeing process of fluorescent acrylic fiber was obtained by testing fluorescent reflectivity as follows: dyeing at(85 ℃) for 75 min with pH value 3.
通过荧光反射率测试,确定纱线最佳染色工艺为染色温度85℃,染色时间75 min,染液pH值3。
2) target plane
反射荧光屏
3) light scattering-fluorescence ratio
光散射/荧光比率
4) light reflectivity
光反射率
1.
Experimental study of light reflectivity of the shocked LY12 aluminum unloading to different gases;
冲击压缩LY12铝向不同充气介质卸载后的光反射率实验研究
5) total internal reflection fluorescence
全内反射荧光
1.
Liquid/liquid total internal reflection fluorescence(TIRF) spectra measurements were realized on a home-made spectrofluorimeter.
在自行组装的全内反射荧光测定装置上实现了液/液界面全内反射荧光光谱的测绘,比较了水溶性的m eso-四(对磺酸基苯基)卟啉(TPPS)在正己烷/水界面上与在水相中荧光性质的差异,研究了全内反射荧光强度随表面活性剂种类、浓度及溶液pH值的变化情况,探索了TPPS的界面吸附行为,着重考察了阳离子表面活性剂CTMAB对TPPS界面荧光性质的影响。
2.
confocal fluorescence, multi photon excitation, total internal reflection fluorescence and near field fluorescence, are reviewed with 64 references.
系统地综述了构成该技术的共焦荧光法、全内反射荧光法、多光子荧光法以及近场荧光法等 4种方法的原理、特点、发展及其应用 ,并且强调了其在单分子测定中的作用。
6) Front surface reflection fluorescence
前表面反射荧光
补充资料：全反射X射线荧光分析
分子式：
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
CAS号：
性质：20世纪80年代迅速发展起来的一种高灵敏度痕量分析方法。当一束经过准直的X射线束，以低于全反射临界角φ投射到表面高度平滑的石英切割反射体（低通能量滤波器）时，低能X射线进行全反射，高能X射线被反射体材料折射和吸收而受到衰减，降低了散射背景。经全反射的高能X射线射到样品架上的μm级薄膜样品，激发被分析样品产生元素的特征X射线荧光，未被利用的入射X射线荧光被垂直放置的Si(或Li)探测器所检测，实现痕量元素的定性和定量分析。由于大大减少了原级X射线在样品架和样品上的相干和不相干散射，使散射本底较常规能量色散X射线荧光分析降低了3个数量级以上，大大降低了检出限，对原子序数大于11的大部分元素检出限可达到10-10～10-12g。此外还具有试样用样量少（μL或μg级）；可测定的元素和浓度范围广，除Na, Mg, Al, Si, P等轻元素外均可测；基体效应可以忽略；制样简便等优点。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条