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1)  interference light filed
干涉光场
2)  near field interference
近场干涉
1.
a theoretical calculation formula of regular optical phased array scanning with near field interference are given,and a conclusion is derived that when optical phased array is arrangedin order and interferes in near field,the size of the unit of phase array can longer than the wavelength of used,and there is only a bright spot on the given scanning direction.
本文给出近场光学相控阵扫描的理论分析及计算 ,并得出结论 :当相控阵单元规则排列并发生近场干涉时 ,相控单元的尺寸可取得比波长长 ,而且相控阵在给定的扫描方向上只有一个扫描亮
3)  Interference Field
干涉场
1.
By analyzing the echo wave signal scattered by an object moving through the illuminated interference field, it is concluded that the optimal illuminated field is the interference field produced by the plane wave and the spherical wave, can be used in the interferemeter imaging.
通过对平面波与平面波之间、球面波与球面波之间以及平面波与球面波之间形成的干涉场的描述和对其回波信号分析, 得出了平面波与球面波之间形成的干涉场适用于干涉仪成像的照明光场的结
2.
A basic conception of laser interferometric imaging from the point of view of a hologram, when an object travels through an interference field produced with coherence light including a plane and spherical waves, is discussed.
从物体全息图的角度出发,阐述了激光干涉仪成像的基本思想;分析了运动物体在球面波与平面波形成的干涉场中的成像理论。
3.
The interference field with gradient force is generated with the help of a converging lens.
采用菲涅耳棱镜将一束单模氦氖激光分为两束平行的等强度光,经过透镜会聚后产生具有梯度力的干涉场,实现对微粒的俘获和筛选,研制成功了“光学梳子”。
4)  far-field interfeFence
远场干涉
5)  field Fourier Transform spectral imaging experiment
外场干涉成像光谱实验
1.
The field Fourier Transform spectral imaging experiment is carried out with the prototype and Fourier Transform image in visible and near infrared(VNIR) region is obtained.
该文介绍了研制的Sagnac型干涉成像 (傅里叶变换 )光谱仪原理样机及用该样机进行的外场干涉成像光谱实验。
6)  Fiber-optic magnetic interferometer
干涉型光纤磁场传感器
补充资料:位移场全息干涉分析
      用激光再现全息干涉法拍摄的承受载荷的构件的全息图时,可重新形成构件受载前后的两个波阵面。由于这两个波阵面的干涉,获得一组包含着构件变形位移信息的干涉条纹(见图)。对这些干涉条纹进行定量分析,可得出受力构件的表面由于载荷作用而产生的整个位移场和应变场。这样,就能解决复杂情况下工程构件的强度和刚度问题。这种非接触式的测量方法,灵敏度很高(按激光波长的数量级计),并可得到任意位移矢量的三个坐标分量。
  
  
  1965年,R.L.鲍威尔和K.A. 斯特森用波阵面再现干涉现象分析振动问题后,这种新方法便在实验应力分析领域中获得广泛的应用。1976年,J.D.布赖尔斯将许多学者对含有物体变形位移信息的干涉条纹的计量和分析解释的方法,归纳为四种主要的定量分析方法:条纹定位法(FL法)、条纹计数法(FC法)、零级条纹法(ZF法)、和等倾干涉条纹法(HF法),其中用得较多的是FC法、ZF法及其综合方法。
  

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