1) wetted perimeter critical point
湿周临界点
2) critical periodic point
临界周期点
1.
Rigorous coupled wave approach(RCWA) was used to calculate the value of twodimensional squarepillar subwavelenth grating s maximum period that allows only propagation of the zeroth diffraction order(the maximum period is also called critical periodic point).
用严格耦合波理论(RCWA)计算了当折射率取一系列离散值时的二维亚波长周期结构介质光栅出现一级衍射透射波的周期值,进而利用最小二乘法拟合出临界周期点随折射率的变化规律;利用一维单台阶和多台阶光栅在TE、TM偏振状态以及二维单台阶圆柱状光栅和二维金字塔结构多台阶光栅进行验证,发现它们同样满足临界周期点的变化规律。
2.
Rigorous coupled wave approach(RCWA) was used to calculate the value of one-dimensional(1D) subwavelenth metal grating′s maximum period that allows only propagation of the zeroth diffraction order(the maximum period is also called critical periodic point).
利用严格耦合波理论(RCWA)计算了一维金属亚波长光栅刚好出现一级衍射透射波时的周期/波长比(临界周期点),并利用最小二乘法拟合出临界周期点随光栅基底折射率的变化关系,即y=1/x。
3) wet criticality
湿临界
4) critical humidity
临界湿度
5) wet critical
湿临界的
6) critical pe rimeter
临界周长
补充资料：临界点干燥法
分子式：
CAS号：
性质：扫描电镜样品的一种处理方法。某些样品(如生物样品)因其表面附有黏液或体内的水分等，用扫描电镜观察前需进行干燥处理。普通干燥方法常因试样受到液体表面张力影响而变形，影响观测结果㈠临界点干燥法则将试样与碳酸混合，放于加压容器中加热，在31℃，0.73MPa的临界点时，碳酸逐渐放出CO2而使样品得以干燥又不改变样品表面形貌。
CAS号：
性质：扫描电镜样品的一种处理方法。某些样品(如生物样品)因其表面附有黏液或体内的水分等，用扫描电镜观察前需进行干燥处理。普通干燥方法常因试样受到液体表面张力影响而变形，影响观测结果㈠临界点干燥法则将试样与碳酸混合，放于加压容器中加热，在31℃，0.73MPa的临界点时，碳酸逐渐放出CO2而使样品得以干燥又不改变样品表面形貌。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条