1) Full scan testing
全扫描设计
2) scan design
扫描设计
1.
The paper introduces DFT tech-niques used in the design of a general-purposed CPU chip,including techniques of scan design,memory build-in-self-test,and IEEE Std.
文中介绍了在一款通用CPU芯片的设计过程中,为提高芯片的易测性而采取的各种可测试性设计技术,主要包括扫描设计(ScanDesign)、存储器内建自测试(Build-in-self-test,简称BIST)以及与IEEE1149。
2.
This paper presents a switc h-level scan design method which solves the problems of area, speed and test ti me at the gate level.
本文针对门级扫描设计存在的面积、速度和测试时间问题 ,给出了一种开关级扫描插入方法 ,较好地解决了门级扫描设计面临的面积和速度问题 ,改进了测试时间问题。
3) scanning design
扫描设计
1.
The quality of CT diagnosis depends on the quality of scanning which is related to accurate scanning design and quality control on work process.
而CT扫描工作的质量与准确的CT扫描设计和CT工作流程质量控制息息相关。
4) total body scan (TBS) counter
全身扫描计数仪
5) Partial scan design
部分扫描设计
6) Scan based design
基于扫描设计
补充资料：扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
扫描电子显微镜(见扫描电子显微术)
scanning eleetron mieroseoPe
扫描电子显微镜scanning eleetron mieroseope见扫描电子显微术。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条