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1)  canopy Vertical structures
冠层铅直结构
2)  canopy vertical structure
冠层垂直结构
3)  Canopy structure
冠层结构
1.
Effects of planting with narrow line and proper density on canopy structure light penetration of soy bean;
窄行密植对大豆群体冠层结构及光分布的影响
2.
Effects of the fertilizations at different N rates on canopy structure and yield formation of high-yield cotton in Xinjiang;
不同氮肥用量对棉花冠层结构光合作用和产量形成的影响
3.
Effects of spraying ethephon on the canopy structure and the physiological indexes for drought resistance in sugarcane;
喷施乙烯利对甘蔗群体冠层结构及一些抗旱性生理指标的影响
4)  Canopy architecture
冠层结构
1.
Chlorophyll fluorescence characteristics and canopy architecture of virus-free s ugarcane;
果蔗脱毒苗田间叶绿素荧光和群体冠层结构
2.
Effects of different fertilizer treatments on canopy architecture and grain yield characteristics of winter Wheat-Yumai 49
不同肥料处理对豫麦49小麦冠层结构与产量性状的影响
3.
Some physiological indexes for drought-resistance at the mid-late stage and the canopy architecture at the technical ripening stage were measured.
选用GT11和新台糖20两个甘蔗品种为供试材料,在甘蔗伸长初期喷施100mg/L乙烯利,着重研究乙烯利对两个甘蔗品种一些抗旱性生理指标及工艺成熟期群体冠层结构的影响。
5)  crown structure
[农]冠层结构
6)  vertical structure of atmosphere
大气的铅直结构
补充资料:电离层垂直探测
      用高频无线电波从地面对电离层进行日常观测的技术。这种技术使用的探测设备称为电离层测高仪(或称垂测仪)。它垂直向上发射频率随时间变化的无线电脉冲,在同一地点接收这些脉冲的电离层反射信号,测量出电波往返的传递时延,从而获得反射高度与频率的关系曲线。这种曲线称为频高图或垂测电离图。
  
  这种探测方法是美国G.布赖特和 M.A.图夫二人于1925年发明的,至今仍是电离层探测的最基本的手段。第二次世界大战以前,全球只有少量电离层垂测站。大战期间,为了改善短波通信,在全世界建立了大量的垂测站。在国际地球物理年期间,这种观测站已有150处以上。中国在1949年前有重庆、武汉、兰州三个站,1949年以后,先后增设了满洲里、乌鲁木齐、长春、北京、广州、海口等站,形成了一个较完整的协同观测的垂测网,积累了两个太阳黑子周期以上的资料。
  
  电离层测高仪实质上是一台短波脉冲雷达,通常由发射机、接收机、天线、频率合成器、显示记录器、程序控制器等组成。其工作频率可在整个短波波段的频率范围 (0.5~30兆赫)内连续改变。电离层测高仪进行探测时,发射机的高频脉冲振荡通过天线垂直向上辐射,不计碰撞和地磁场的影响,根据阿普顿-哈特里公式(见磁离子理论),电离层介质的折射指数为
  
  式中称为等离子体频率;f为发射频率(兆赫)。对应于电离层中某一高度的电子密度值N(单位为米-3)各有一个fN值。利用测高仪对电离层某层进行探测时,将发射机频率f由低值逐渐增高,当f=fN时,n=0,电波就从与N 相对应的高度反射回来。如果该层最大电子密度值为Nm,则从该层反射的电波最高频率为
  
  式中fC为该层的临界频率。如果f>fC,电波将穿过该层入射到更高的电离层次。当 f的值足够高而使电波能穿过最高的层次时,这个频率即为整个电离层的穿透频率。
  
  假设脉冲波群在电离层介质中的传播速度同在自由空间中一样,那么,根据反射下来的回波脉冲与发射脉冲之间的时延t,即可决定反射点的高度为
  
  式中 c为真空中的光速。但实际上电离层介质中电波的群速度小于光速c。因此,由上式算出的 h′不是反射点的真正高度 h,它可能比h高得多。通常称h′为等效高度或虚高。
  
  根据国际的统一规定,垂直探测站从频高图度量出E、F1、F2和Es层的临界频率和最小虚高等参数,编制成月报表供用户使用。此外,通过适当的换算还可从频高图得出电子密度随高度的分布。这些资料可用于短波通信频率预报、电离层骚扰预报、电离层形态分析和其他电离层物理问题的研究。
  
  垂直探测技术采用脉冲压缩、视频信号鉴别、调频连续波等技术,提高了测高仪的抗干扰能力,同时,还出现了能探测电离层运动信息的测高仪。但是,垂直探测技术有它的局限性,例如,难于探测 D层的电离程度、难于获得E层和F层之间谷区(120~140公里)的信息、不能研究F层峰以上的电离层等,这些缺陷须用其他探测方法加以弥补(见电离层无线电探测)。
  

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参考词条