3) C-T and tgδ-T
介电温谱
1.
The curves of C-T and tgδ-T for th.
介电温谱测试表明,随着温度的升高,梯度薄膜出现一个铁电-铁电相变点和两个居里点,同时出现一定的频率弥散现象。
5) temperature test system
温度测试系统
1.
Temperature test system based on FPGA extending MCU interface
基于FPGA技术扩展单片机接口的温度测试系统
2.
The paper described a intelligent heating elememt, the temperature test system by using a new single microcomputer.
给出了由ＡＴ８９Ｃ２０５１单片机控制的智能热电偶温度测试系统，叙述了该系统的温度测试电路、模数转换电路以及温度显示的软硬件实现方法。
补充资料：介电谱
分子式：
CAS号：
性质： 对介电质加一电场，在宽范围的温度和频率内描述介电常数和介质损耗因数变化的曲线，即复数介电常数的实数部分ε′(ω)频谱和虚部ε"(ω)频谱，也称作介电色散曲线。介电谱可以给出有关极化机制和晶格振动等重要信息，有两种类型介电谱，即共振型和松弛型。介电谱对研究材料的频率特性及相变特性有重要意义。
CAS号：
性质： 对介电质加一电场，在宽范围的温度和频率内描述介电常数和介质损耗因数变化的曲线，即复数介电常数的实数部分ε′(ω)频谱和虚部ε"(ω)频谱，也称作介电色散曲线。介电谱可以给出有关极化机制和晶格振动等重要信息，有两种类型介电谱，即共振型和松弛型。介电谱对研究材料的频率特性及相变特性有重要意义。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条